Яблоков, Михаил Юрьевич.
Развитие вторично-эмиссионной масс-спектрометрии для анализа полимерных композиционных материалов : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.19 / Моск. физ.-техн. ин-т. - Москва, 1988. - 129 с.
М. Ю. Яблоков, Л. Н. Григоров, Д. В. Шалашилин, “О возможности локального анализа диэлектриков с помощью атомно-ионной
масс-спектрометрии”, ЖТФ, 56:10 (1986), 2020–2023