Персоналии
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
 
Стожаров Валерий Михайлович

В базах данных Math-Net.Ru
Публикаций: 18
Научных статей: 18

Статистика просмотров:
Эта страница:420
Страницы публикаций:4258
Полные тексты:2366
кандидат физико-математических наук

https://www.mathnet.ru/rus/person182818
Список публикаций на Google Scholar

Публикации в базе данных Math-Net.Ru Цитирования
2022
1. С. А. Кукушкин, А. В. Осипов, Е. В. Осипова, В. М. Стожаров, “Исследование этапов превращения кремния в карбид кремния в процессе атомного замещения методами полного внешнего отражения рентгеновских лучей и рентгеновской дифрактомерии”, Физика твердого тела, 64:3 (2022),  326–336  mathnet  elib 1
2. С. А. Кукушкин, А. В. Осипов, А. В. Редьков, В. М. Стожаров, Е. В. Убыйвовк, Ш. Ш. Шарофидинов, “Особенности зарождения и роста нитевидных нанокристаллов InGaN на подложках SiC/Si методом хлорид-гидридной эпитаксии”, Письма в ЖТФ, 48:4 (2022),  24–28  mathnet  elib
2021
3. В. М. Стожаров, И. И. Хинич, “О механизме возбуждения плазменных колебаний в твердых телах, исследованных методом полного внешнего отражения рентгеновских лучей”, Физика твердого тела, 63:5 (2021),  677–679  mathnet  elib 1
4. В. М. Стожаров, “Дисперсия плазменных колебаний в аморфных халькогенидных полупроводниках”, ЖТФ, 91:6 (2021),  1059–1062  mathnet  elib; V. M. Stozharov, “Dispersion of plasma oscillations in amorphous chalcogenide semiconductors”, Tech. Phys., 66:8 (2021), 938–941  scopus 2
5. В. Т. Аванесян, П. С. Провоторов, В. М. Стожаров, М. М. Сычев, А. А. Ерузин, “Спектроскопия тонких пленок оксида цинка вблизи края фундаментального поглощения”, Оптика и спектроскопия, 129:9 (2021),  1142–1145  mathnet  elib; V. T. Avanesyan, P. S. Provotorov, V. M. Stozharov, M. M. Sychov, A. A. Eruzin, “Spectroscopy of zinc oxide thin films near the fundamental absorption edge”, Optics and Spectroscopy, 129:11 (2021), 1196–1199 5
2020
6. В. М. Стожаров, “Исследование плазменных колебаний в стеклообразных диэлектриках методом полного внешнего отражения рентгеновских лучей”, ЖТФ, 90:7 (2020),  1116–1120  mathnet  elib; V. M. Stozharov, “Investigation of plasma oscillations in glasslike dielectrics by means of total external reflection of X rays”, Tech. Phys., 65:7 (2020), 1071–1075 1
7. А. А. Кононов, Р. А. Кастро Арата, Д. Д. Главная, В. М. Стожаров, Д. М. Долгинцев, Ю. Сайто, П. Фонс, Н. И. Анисимова, А. В. Колобов, “Поляризационные процессы в тонких слоях аморфного MoS$_{2}$, полученных методом высокочастотного магнетронного распыления”, Физика и техника полупроводников, 54:5 (2020),  461–465  mathnet  elib; A. A. Kononov, R. A. Castro Arata, D. D. Glavnaya, V. M. Stozharov, D. M. Dolginsev, Yu. Saito, P. Fons, N. I. Anisimova, A. V. Kolobov, “Polarization processes in thin layers of amorphous MoS$_2$ obtained by RF magnetron sputtering”, Semiconductors, 54:5 (2020), 558–562 1
8. А. Р. Кастро Арата, В. М. Стожаров, Д. М. Долгинцев, А. А. Кононов, Ю. Сайто, П. Фонс, Д. Томинага, Н. И. Анисимова, А. В. Колобов, “Структурное и диэлектрическое исследование тонких аморфных слоев системы Ge–Sb–Te, полученных методом высокочастотного магнетронного распыления”, Физика и техника полупроводников, 54:2 (2020),  149–152  mathnet  elib; R. A. Castro-Arata, V. M. Stozharov, D. M. Dolginsev, A. A. Kononov, Yu. Saito, P. Fons, J. Tominaga, N. I. Anisimova, A. V. Kolobov, “Structural and dielectric study of thin amorphous layers of the Ge–Sb–Te system prepared by RF magnetron sputtering”, Semiconductors, 54:2 (2020), 201–204
2019
9. В. М. Стожаров, “Определение плазменных колебаний в металлах методом полного внешнего отражения рентгеновских лучей”, ЖТФ, 89:7 (2019),  1036–1038  mathnet  elib; V. M. Stozharov, “Determination of plasma oscillations in metals using total external reflection of X-rays”, Tech. Phys., 64:7 (2019), 977–979 3
10. В. Т. Аванесян, И. В. Писковатскова, В. М. Стожаров, “Влияние рентгеновского излучения на оптические свойства фоторефрактивных кристаллов силиката висмута”, Физика и техника полупроводников, 53:8 (2019),  1043–1046  mathnet  elib; V. T. Avanesyan, I. V. Piskovatskova, V. M. Stozharov, “Effect of X-ray radiation on the optical properties of photorefractive bismuth-silicate crystals”, Semiconductors, 53:8 (2019), 1024–1027 4
11. А. Г. Гагарин, А. В. Тумаркин, Е. Н. Сапего, Т. С. Кункель, В. М. Стожаров, “Гетероструктура BaTiO$_{3}$/LaSrMnO$_{3}$ на сапфире для сегнетоэлектрических туннельных переходов”, Письма в ЖТФ, 45:4 (2019),  31–33  mathnet  elib; A. G. Gagarin, A. V. Tumarkin, E. N. Sapego, T. S. Kunkel', V. M. Stozharov, “BaTiO$_{3}$/LaSrMnO$_{3}$ heterostructure grown on sapphire for ferroelectric tunneling junctions”, Tech. Phys. Lett., 45:2 (2019), 152–154 1
2018
12. А. В. Ильинский, В. М. Капралова, Р. А. Кастро, Л. А. Набиуллина, В. М. Стожаров, Е. Б. Шадрин, “Механизм оптической перезарядки магнитных центров в BSO:Fe”, Физика твердого тела, 60:9 (2018),  1785–1792  mathnet  elib; A. V. Ilinskiy, V. M. Kapralova, R. A. Castro, L. A. Nabiullina, V. M. Stozharov, E. B. Shadrin, “Mechanism of optical charge exchange of magnetic centers in BSO:Fe”, Phys. Solid State, 60:9 (2018), 1831–1838 1
2017
13. В. Т. Аванесян, К. И. Пайма, В. М. Стожаров, “Особенности электропереноса в структуре фоторефрактивного легированного кристалла Bi$_{12}$TiO$_{20}$:Ru”, Физика твердого тела, 59:6 (2017),  1056–1059  mathnet  elib; V. T. Avanesyan, K. I. Paima, V. M. Stozharov, “Electron transfer in the structure of a photorefractive doped Bi$_{12}$TiO$_{20}$:Ru crystal”, Phys. Solid State, 59:6 (2017), 1076–1079 3
14. В. М. Стожаров, В. П. Пронин, “О механизме полного внешнего отражения рентгеновских лучей от поверхности поликристаллических твердых тел”, ЖТФ, 87:12 (2017),  1901–1905  mathnet  elib; V. M. Stozharov, V. P. Pronin, “Total external reflection of X rays from polycrystal solid surface”, Tech. Phys., 62:12 (2017), 1899–1902 3
15. В. М. Стожаров, “Об исследовании полного внешнего отражения рентгеновских лучей от поверхности твердых тел”, ЖТФ, 87:1 (2017),  125–129  mathnet  elib; V. M. Stozharov, “Total external reflection of X-rays from solid surfaces”, Tech. Phys., 62:1 (2017), 152–156 7
2016
16. А. В. Тумаркин, С. В. Разумов, А. Г. Гагарин, А. А. Одинец, А. К. Михайлов, И. П. Пронин, В. М. Стожаров, С. В. Сенкевич, Н. К. Травин, “Сегнетоэлектрические пленки титаната бария-стронция на подложке полуизолирующего карбида кремния”, Письма в ЖТФ, 42:8 (2016),  70–77  mathnet  elib; A. V. Tumarkin, S. V. Razumov, A. G. Gagarin, A. A. Odinets, A. K. Mikhaǐlov, I. P. Pronin, V. M. Stozharov, S. V. Senkevich, N. K. Travin, “Ferroelectric films of barium strontium titanate on semi-insulating silicon carbide substrates”, Tech. Phys. Lett., 42:4 (2016), 423–426 8
17. А. В. Тумаркин, С. В. Разумов, А. Г. Гагарин, А. Г. Алтынников, В. М. Стожаров, Е. Ю. Каптелов, С. В. Сенкевич, И. П. Пронин, “Структура и диэлектрические свойства тонких пленок цирконата-титаната бария, полученных ВЧ магнетронным распылением”, Письма в ЖТФ, 42:3 (2016),  61–67  mathnet  elib; A. V. Tumarkin, S. V. Razumov, A. G. Gagarin, A. G. Altynnikov, V. M. Stozharov, E. Yu. Kaptelov, S. V. Senkevich, I. P. Pronin, “The structure and dielectric properties of thin barium zirconate titanate films obtained by RF magnetron sputtering”, Tech. Phys. Lett., 42:2 (2016), 143–145 5
2014
18. В. М. Стожаров, “О возможности элементного анализа кристаллических твердых тел методом дифракции рентгеновских лучей”, ЖТФ, 84:10 (2014),  48–50  mathnet  elib; V. M. Stozharov, “On the possibility of elemental analysis of solid crystals by the X-ray diffraction method”, Tech. Phys., 59:10 (2014), 1466–1469

Организации
 
  Обратная связь:
 Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2026