|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2025 |
| 1. |
А. Н. Афанасьев, К. А. Барышников, А. В. Коротченков, П. С. Алексеев, “Вязкоупругий резонанс в течении двумерных электронов при реалистичных граничных условиях на краях канала”, Письма в ЖЭТФ, 122:9 (2025), 589–596  |
|
2021 |
| 2. |
М. Ю. Морозов, И. М. Моисеенко, А. В. Коротченков, В. В. Попов, “Замедление терагерцовых плазменных волн в конической структуре с графеном, накачиваемым с помощью оптических плазменных волн”, Физика и техника полупроводников, 55:6 (2021), 518–523  |
|
2020 |
| 3. |
A. V. Korotchenkov, “Coupling of quantum-well excitons to plasmons in one-dimensional metal nanocylinder gratings”, Физика и техника полупроводников, 54:11 (2020), 1259 ; Semiconductors, 54:11 (2020), 1506–1508 |
2
|
|
2019 |
| 4. |
Н. С. Аверкиев, А. В. Коротченков, В. А. Кособукин, “К теории плазмон-экситонов: оценка константы взаимодействия и оптический спектр”, Физика и техника полупроводников, 53:8 (2019), 1063–1067 ; N. S. Averkiev, A. V. Korotchenkov, V. A. Kosobukin, “On the theory of plasmon–excitons: an estimate of the coupling constant and the optical spectrum”, Semiconductors, 53:8 (2019), 1042–1047 |
4
|
|
2016 |
| 5. |
В. А. Кособукин, А. В. Коротченков, “Плазмонная спектроскопия анизотропного отражения света от наночастиц металла, находящихся на поверхности полупроводника”, Физика твердого тела, 58:12 (2016), 2446–2453 ; V. A. Kosobukin, A. V. Korotchenkov, “Plasmonic reflectance anisotropy spectroscopy of metal nanoparticles on a semiconductor surface”, Phys. Solid State, 58:12 (2016), 2536–2544 |
9
|
|
2015 |
| 6. |
С. А. Масалов, А. В. Коротченков, В. П. Евтихиев, С. В. Сорокин, “Полевая эмиссионная накачка наногетероструктуры ZnSe/CdSe/ZnSe электронами низких энергий через поверхностный потенциальный барьер”, Письма в ЖТФ, 41:1 (2015), 102–110 ; S. A. Masalov, A. V. Korotchenkov, V. P. Evtikhiev, S. V. Sorokin, “Field-emission pumping of a ZnSe/CdSe/ZnSe nanoheterostructure with low-energy electrons through a surface potential barrier”, Tech. Phys. Lett., 41:1 (2015), 50–53 |
3
|
|
