|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2025 |
| 1. |
В. В. Чистяков, С. В. Рябцев, А. А. Аль-Хабиб, С. М. Соловьев, С. Ю. Турищев, “Хемометрический анализ функционирования тонких пленок PdO в качестве химического сенсора на озон в атмосфере воздуха”, Физика и техника полупроводников, 59:7 (2025), 383–387  |
|
2023 |
| 2. |
В. В. Чистяков, С. В. Рябцев, А. А. Аль-Хабиб, С. М. Соловьев, “Обработка сигналов, полученных в условиях модуляции рабочей температуры кондуктометрического сенсора на базе PdO”, Физика твердого тела, 65:12 (2023), 2107–2110  |
|
2021 |
| 3. |
С. В. Рябцев, Д. А. А. Гхариб, С. Ю. Турищев, Л. А. Обвинцева, А. В. Шапошник, Э. П. Домашевская, “Структурные и газочувствительные характеристики тонких полупроводниковых пленок PdO различной толщины при детектировании озона”, Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1034–1039 |
2
|
|
2019 |
| 4. |
Э. П. Домашевская, Д. Л. Голощапов, Аль Хайлани Хасан Исмаил Дамбос, Е. В. Руднев, М. В. Гречкина, С. В. Рябцев, “Особенности морфологии и оптических свойств наноструктур дисульфида молибдена от мономолекулярного слоя до фрактолообразной субструктуры”, Физика и техника полупроводников, 53:7 (2019), 940–946 ; È. P. Domashevskaya, D. L. Goloshchapov, Al Khailani Hasan Ismail Dambos, E. V. Rudnev, M. V. Grechkina, S. V. Ryabtsev, “On the morphology and optical properties of molybdenum disulfide nanostructures from a monomolecular layer to a fractal-like substructure”, Semiconductors, 53:7 (2019), 923–929 |
2
|
|
2016 |
| 5. |
С. В. Рябцев, О. А. Чувенкова, С. В. Канныкин, А. Е. Попов, Н. С. Рябцева, С. С. Воищев, С. Ю. Турищев, Э. П. Домашевская, “Электрофизические и оптические свойства оксидных нанослоев, полученных термическим окислением металлического олова”, Физика и техника полупроводников, 50:2 (2016), 180–184 ; S. V. Ryabtsev, O. A. Chuvenkova, S. V. Kannykin, A. E. Popov, N. S. Ryabtseva, S. S. Voischev, S. Yu. Turishchev, È. P. Domashevskaya, “On the electrical and optical properties of oxide nanolayers produced by the thermal oxidation of metal tin”, Semiconductors, 50:2 (2016), 180–184 |
|
2015 |
| 6. |
О. А. Чувенкова, Э. П. Домашевская, С. В. Рябцев, Ю. А. Юраков, А. Е. Попов, Д. А. Коюда, Д. Н. Нестеров, Д. Е. Спирин, Р. Ю. Овсянников, С. Ю. Турищев, “Исследование поверхностных дефектов в нитевидных кристаллах SnO$_2$ методами XANES и XPS”, Физика твердого тела, 57:1 (2015), 145–152 ; O. A. Chuvenkova, È. P. Domashevskaya, S. V. Ryabtsev, Yu. A. Yurakov, A. E. Popov, D. A. Koyuda, D. N. Nesterov, D. E. Spirin, R. Yu. Ovsyannikov, S. Yu. Turishchev, “XANES and XPS investigations of surface defects in wire-like SnO$_2$ crystals”, Phys. Solid State, 57:1 (2015), 153–161 |
46
|
|
