|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2025 |
| 1. |
В. Д. Окунев, З. А. Самойленко, Ю. М. Николаенко, Т. А. Дьяченко, В. В. Бурховецкий, А. С. Корнеевец, “Зарождение кластеризованной структуры пленок La$_{0.7}$Sr$_{0.3}$MnO$_{3-x}$ в магнетронной плазме: влияние электрических полей и ионного звука на левитацию частиц и “замороженные” колебания параметров пленок”, Физика твердого тела, 67:1 (2025), 90–104   |
|
2020 |
| 2. |
В. Д. Окунев, З. А. Самойленко, Ю. М. Николаенко, Т. А. Дьяченко, А. С. Корнеевец, Е. И. Пушенко, “Формирование кластеров La$_{0.7}$Sr$_{0.3}$MnO$_{3}$ в магнетронной плазме при воздействии ионно-звуковой волны на поток частиц”, Письма в ЖТФ, 46:1 (2020), 47–51 ; V. D. Okunev, Z. A. Samoilenko, Yu. M. Nikolaenko, T. A. D'yachenko, A. S. Korneevets, E. I. Pushenko, “Formation of La$_{0.7}$Sr$_{0.3}$MnO$_{3}$ clusters in magnetron plasma under action of an ion acoustic wave on the particle flow”, Tech. Phys. Lett., 46:1 (2020), 42–46 |
3
|
|
2019 |
| 3. |
Ю. М. Николаенко, А. С. Корнеевец, Н. Б. Эфрос, В. В. Бурховецкий, И. Ю. Решидова, “Оценка толщины тонких пленок на основе данных элементного состава пленочных структур”, Письма в ЖТФ, 45:13 (2019), 44–47 ; Yu. M. Nikolaenko, A. S. Korneevets, N. B. Efros, V. V. Burkhovetskiy, I. Yu. Reshidova, “Assessing the thickness of thin films based on elemental data composition of film structures”, Tech. Phys. Lett., 45:7 (2019), 679–682 |
2
|
|
2018 |
| 4. |
А. А. Тихий, Ю. М. Николаенко, Ю. И. Жихарева, А. С. Корнеевец, И. В. Жихарев, “Влияние термических условий получения и обработки на оптические свойства пленок In$_{2}$O$_{3}$”, Физика и техника полупроводников, 52:3 (2018), 337–341 ; A. A. Tikhii, Yu. M. Nikolaenko, Yu. I. Zhikhareva, A. S. Korneevets, I. V. Zhikharev, “Influence of the thermal conditions of fabrication and treatment on the optical properties of In$_{2}$O$_{3}$ films”, Semiconductors, 52:3 (2018), 320–323 |
6
|
|
