|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2024 |
| 1. |
С. П. Зимин, И. И. Амиров, В. В. Наумов, М. С. Тиванов, Л. С. Ляшенко, О. В. Королик, E. Abramof, P. H. O. Rappl, “Наноструктурирование поверхности эпитаксиальных пленок Bi$_2$Te$_3$ при ионно-плазменной обработке”, Физика твердого тела, 66:8 (2024), 1408–1416  |
|
2023 |
| 2. |
С. П. Зимин, И. И. Амиров, М. С. Тиванов, Н. Н. Колесников, О. В. Королик, Л. С. Ляшенко, Д. В. Жигулин, Л. А. Мазалецкий, С. В. Васильев, О. В. Савенко, “Морфология поверхности и структурные свойства кристаллов GaTe после ионно-плазменной обработки”, Физика твердого тела, 65:4 (2023), 692–700  |
|
2018 |
| 3. |
А. В. Станчик, В. Ф. Гременок, С. А. Башкиров, М. С. Тиванов, Р. Л. Юшкенас, Г. Ф. Новиков, Р. Герайтис, A. M. Саад, “Микроструктура и комбинационное рассеяние света тонких пленок Cu$_{2}$ZnSnSe$_{4}$, осажденных на гибкие металлические подложки”, Физика и техника полупроводников, 52:2 (2018), 227–232 ; A. Stanchik, V. F. Gremenok, S. A. Bashkirov, M. S. Tivanov, R. L. Juškėnas, G. F. Novikov, R. Giraitis, A. M. Saad, “Microstructure and Raman scattering of Cu$_{2}$ZnSnSe$_{4}$ thin films deposited onto flexible metal substrates”, Semiconductors, 52:2 (2018), 215–220 |
7
|
|
