|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2024 |
| 1. |
М. А. Смирнова, К. Н. Лобзов, В. И. Бачурин, Л. А. Мазалецкий, Д. Э. Пухов, А. Б. Чурилов, “Особенности угловой зависимости коэффициента распыления германия фокусированным ионным пучком галлия”, Письма в ЖТФ, 50:22 (2024), 21–24 |
|
2023 |
| 2. |
А. С. Рудый, А. Б. Чурилов, С. В. Курбатов, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, Е. А. Козлов, “Определение зонной структуры и проводимости нанокомпозита Si@O@Al”, ЖТФ, 93:10 (2023), 1447–1458 |
| 3. |
А. С. Рудый, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, А. Б. Чурилов, С. В. Курбатов, Ю. С. Егорова, Е. А. Козлов, “Влияние варисторного эффекта и контактных явлений на характеристики твердотельных литий-ионных аккумуляторов с полупроводниковыми электродами”, ЖТФ, 93:9 (2023), 1329–1339 |
|
2022 |
| 4. |
А. С. Рудый, А. Б. Чурилов, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, С. В. Курбатов, Е. А. Козлов, “Особенности вольт-амперной характеристики перехода Ti–Si@O@Al”, Письма в ЖТФ, 48:17 (2022), 9–12 |
1
|
| 5. |
А. С. Рудый, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, А. Б. Чурилов, “Барьер Шоттки в структурах Si–M твердотельных литий-ионных аккумуляторов”, Письма в ЖТФ, 48:12 (2022), 32–35 |
1
|
|
2019 |
| 6. |
В. И. Бачурин, Н. С. Мелесов, Е. О. Паршин, А. С. Рудый, А. Б. Чурилов, “Исследование многослойных тонкопленочных структур методом резерфордовского обратного рассеяния”, Письма в ЖТФ, 45:12 (2019), 26–29 ; V. I. Bachurin, N. S. Melesov, E. O. Parshin, A. S. Rudyi, A. B. Churilov, “Study of multilayer thin film structures by Rutherford backscattering spectrometry”, Tech. Phys. Lett., 45:6 (2019), 609–612 |
|
2017 |
| 7. |
А. С. Рудый, С. В. Васильев, М. Е. Лебедев, А. В. Метлицкая, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, А. В. Новожилова, И. С. Федоров, А. Б. Чурилов, “Экспериментальное исследование тонких пленок твердого электролита фосфор-оксинитрида лития”, Письма в ЖТФ, 43:11 (2017), 3–11 ; A. S. Rudyi, S. V. Vasilev, M. E. Lebedev, A. V. Metlitskaya, A. A. Mironenko, V. V. Naumov, A. V. Novozhilova, I. S. Fedorov, A. B. Churilov, “An experimental examination of thin films of lithium phosphorus oxynitride (a solid electrolyte)”, Tech. Phys. Lett., 43:6 (2017), 503–506 |
2
|
|