|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2017 |
| 1. |
И. М. Викулин, В. Э. Горбачев, Ш. Д. Курмашев, “Деградация параметров транзисторных датчиков температуры под действием ионизирующего облучения”, Физика и техника полупроводников, 51:10 (2017), 1404–1409   ; I. M. Vikulin, V. È. Gorbachev, Sh. D. Kurmashev, “Degradation of the parameters of transistor temperature sensors under the effect of ionizing radiation”, Semiconductors, 51:10 (2017), 1354–1359 |
4
|
|
