К. А. Савин, А. В. Клековкин, И. И. Минаев, Г. Н. Ерошенко, В. С. Кривобок, Д. Е. Свиридов, А. Е. Гончаров, С. Н. Николаев, “Использование микроскопии сопротивления растекания для определения параметров барьерного слоя в nBn-структурах на основе InSb”, Письма в ЖТФ, 50:19 (2024), 33–35
