|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2022 |
| 1. |
Э. И. Рау, С. В. Зайцев, В. Ю. Караулов, “Определение толщин и глубин залегания подповерхностных наноструктур с помощью сканирующего электронного микроскопа”, Письма в ЖТФ, 48:23 (2022), 22–25 |
3
|
|