|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2024 |
| 1. |
О. М. Немцова, Г. Н. Коныгин, И. С. Веселков, “Расширенная математическая модель обратной задачи ядерного гамма-резонанса. Достоверность и информативность применения”, Вестн. Сам. гос. техн. ун-та. Сер. Физ.-мат. науки, 28:1 (2024), 152–170  |
|
2021 |
| 2. |
Т. М. Банникова, В. М. Немцов, Н. А. Баранова, Г. Н. Коныгин, О. М. Немцова, “Метод оценки статистической погрешности решения в обратной задаче спектроскопии”, Изв. ИМИ УдГУ, 58 (2021), 3–17  |
|
2020 |
| 3. |
О. М. Немцова, Т. М. Банникова, В. М. Немцов, “Априорные оценки геометрических параметров аномального объекта при моделировании структуры грунта программой RES3DINV”, Вестн. Удмуртск. ун-та. Матем. Мех. Компьют. науки, 30:4 (2020), 696–710  |
|
2017 |
| 4. |
Т. С. Картапова, О. Р. Бакиева, В. Л. Воробьев, А. А. Колотов, О. М. Немцова, Д. В. Сурнин, Г. М. Михеев, Ф. З. Гильмутдинов, В. Я. Баянкин, “Характеризация тонких углеродных пленок на поверхности железа, сформированных магнетронным напылением с ионно-лучевым перемешиванием”, Физика твердого тела, 59:3 (2017), 594–600 ; T. S. Kartapova, O. R. Bakieva, V. L. Vorobyov, A. A. Kolotov, O. M. Nemtsova, D. V. Surnin, G. M. Mikheev, F. Z. Gilmutdinov, V. Ya. Bayankin, “Characterization of thin carbon films formed on the iron surface by magnetron sputtering with ion-beam mixing”, Phys. Solid State, 59:3 (2017), 613–619 |
2
|
|
2015 |
| 5. |
О. Р. Бакиева, О. М. Немцова, Д. В. Сурнин, Д. Е. Гай, “Анализ локальной атомной структуры марганца и его оксидов методом спектроскопии протяженных тонких структур энергетических потерь электронов”, Физика твердого тела, 57:7 (2015), 1420–1429 ; O. R. Bakieva, O. M. Nemtsova, D. V. Surnin, D. E. Gai, “Analysis of the local atomic structure of manganese and its oxides by extended energy loss fine structure spectroscopy”, Phys. Solid State, 1446–1455 |
1
|
|
2011 |
| 6. |
А. В. Смурыгин, О. В. Карбань, О. М. Немцова, Д. В. Хлопов, И. В. Журбин, “Геометрическое моделирование структуры наноматериалов для тестирования методов сегментации изображений сканирующей зондовой микроскопии”, Матем. моделирование, 23:12 (2011), 143–150 |
|
