Т. Ф. Бурухина, В. А. Карташев, “Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2004, 088, 25 стр.
2.
Т. Ф. Бурухина, В. А. Карташев, “Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2004, 087, 20 стр.
