Персоналии
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
 
Попков Кирилл Андреевич
В базах данных Math-Net.Ru
Публикаций: 62
Научных статей: 62

Статистика просмотров:
Эта страница:983
Страницы публикаций:12878
Полные тексты:4085
Списки литературы:2528
Попков Кирилл Андреевич
старший научный сотрудник
доктор физико-математических наук
E-mail:
Ключевые слова: контакт, функциональный элемент, контактная схема, схема из функциональных элементов, неисправность, проверяющий тест, диагностический тест, булева функция

Основные темы научной работы

Тесты для контактов и функциональных элементов, тесты для контактных схем и схем из функциональных элементов

https://www.mathnet.ru/rus/person87435
Список публикаций на Google Scholar

Публикации в базе данных Math-Net.Ru Цитирования
2024
1. К. А. Попков, “Короткие проверяющие тесты размыкания для контактных схем с дополнительным полюсом”, Дискрет. матем., 36:4 (2024),  117–137  mathnet
2. К. А. Попков, “Письмо в редакцию”, Дискрет. матем., 36:3 (2024),  149  mathnet
3. К. А. Попков, “О реализации линейных булевых функций самокорректирующимися схемами из ненадежных функциональных элементов”, Матем. заметки, 115:1 (2024),  91–107  mathnet  mathscinet; K. A. Popkov, “Implementation of Linear Boolean Functions by Self-Correcting Circuits of Unreliable Logic Gates”, Math. Notes, 115:1 (2024), 77–88  scopus
2023
4. К. А. Попков, “Короткие тесты для контактных схем при однотипных слабо связных неисправностях контактов”, Дискрет. матем., 35:4 (2023),  69–78  mathnet
5. К. А. Попков, “Короткие полные диагностические тесты для схем, реализующих линейные булевы функции”, Матем. заметки, 113:1 (2023),  75–89  mathnet  mathscinet; K. A. Popkov, “Short Complete Diagnostic Tests for Circuits Implementing Linear Boolean Functions”, Math. Notes, 113:1 (2023), 80–92  scopus 1
6. К. А. Попков, “Короткие проверяющие тесты для контактных схем при произвольных слабо связных неисправностях контактов”, ПДМ, 2023, № 62,  71–82  mathnet
2022
7. К. А. Попков, “Короткие условные полные диагностические тесты для схем при однотипных константных неисправностях элементов”, Дискрет. матем., 34:3 (2022),  63–69  mathnet; K. A. Popkov, “Short conditional complete diagnostic tests for circuits under one-type constant faults of gates”, Discrete Math. Appl., 33:6 (2023), 381–386
8. К. А. Попков, “Короткие полные диагностические тесты для схем с двумя дополнительными входами в одном базисе”, Дискрет. матем., 34:2 (2022),  67–82  mathnet; K. A. Popkov, “Short complete diagnostic tests for circuits with two additional inputs in some basis”, Discrete Math. Appl., 33:4 (2023), 219–230 3
9. К. А. Попков, “О самокорректирующихся схемах из ненадежных функциональных элементов, имеющих не более двух входов”, Матем. заметки, 111:1 (2022),  145–148  mathnet  mathscinet; K. A. Popkov, “On Self-Correcting Logic Circuits of Unreliable Gates with at Most Two Inputs”, Math. Notes, 111:1 (2022), 157–160  isi  scopus 1
10. К. А. Попков, “Короткие полные диагностические тесты для схем с одним дополнительным входом в стандартном базисе”, ПДМ, 2022, № 56,  104–112  mathnet 2
11. К. А. Попков, “Короткие единичные проверяющие тесты для схем при произвольных неисправностях функциональных элементов”, ПДМ, 2022, № 55,  59–76  mathnet  mathscinet  isi 2
12. К. А. Попков, “Короткие полные диагностические тесты для схем из функциональных элементов в одном бесконечном базисе”, Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех., 2022, № 5,  51–54  mathnet  mathscinet  zmath  elib; K. A. Popkov, “Short complete diagnostic tests for logic circuits in one infinite basis”, Moscow University Mathematics Bulletin, 77:5 (2022), 250–253
2021
13. К. А. Попков, “О реализации булевых функций контактными схемами минимальной равномерной ширины”, Дискрет. матем., 33:4 (2021),  94–109  mathnet; K. A. Popkov, “On implementation of Boolean functions by contact circuits of minimal uniform width”, Discrete Math. Appl., 32:6 (2022), 403–415
14. К. А. Попков, “О самокорректирующихся схемах из ненадёжных функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2021, 049, 18 стр.  mathnet 1
15. К. А. Попков, “О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов”, ПДМ, 2021, № 51,  85–100  mathnet  isi 3
2020
16. К. А. Попков, “О реализации булевых функций контактными схемами константной равномерной ширины”, Докл. РАН. Матем., информ., проц. упр., 495 (2020),  65–68  mathnet  zmath  elib; K. A. Popkov, “On implementation of boolean functions by contact circuits with a constant uniform width”, Dokl. Math., 102:3 (2020), 502–504 1
17. К. А. Попков, “Оценки функций Шеннона длин тестов замыкания для контактных схем”, Дискрет. матем., 32:3 (2020),  49–67  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Bounds on Shannon functions of lengths of contact closure tests for contact circuits”, Discrete Math. Appl., 31:3 (2021), 165–178  isi  scopus 2
18. К. А. Попков, “Короткие единичные диагностические тесты для контактных схем при обрывах и замыканиях контактов”, Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 24:1 (2020),  143–152  mathnet
19. К. А. Попков, “Короткие тесты замыкания для контактных схем”, Матем. заметки, 107:4 (2020),  591–603  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Short Tests of Closures for Contact Circuits”, Math. Notes, 107:4 (2020), 653–662  isi  scopus 5
20. К. А. Попков, “О реализации булевых функций контактными схемами равномерной ширины 3”, Учен. зап. Казан. ун-та. Сер. Физ.-матем. науки, 162:3 (2020),  350–358  mathnet  isi 1
2019
21. К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 26:1 (2019),  89–113  mathnet; K. A. Popkov, “Short complete fault detection tests for logic networks with fan-in two”, J. Appl. Industr. Math., 13:1 (2019), 118–131  scopus 4
22. К. А. Попков, “О диагностических тестах размыкания для контактных схем”, Дискрет. матем., 31:2 (2019),  123–142  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “On diagnostic tests of contact break for contact circuits”, Discrete Math. Appl., 30:2 (2020), 103–116  isi  scopus 7
23. К. А. Попков, “Метод построения легко диагностируемых схем из функциональных элементов относительно единичных неисправностей”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2019, 081, 29 стр.  mathnet  elib 1
24. К. А. Попков, “Короткие единичные проверяющие тесты для контактных схем при обрывах и замыканиях контактов”, Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 23:3 (2019),  97–130  mathnet 5
25. К. А. Попков, “О полных диагностических тестах для контактных схем при обрывах и/или замыканиях контактов”, Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки, 2019, № 3,  5–24  mathnet 1
26. К. А. Попков, “Метод построения легко диагностируемых схем из функциональных элементов относительно единичных неисправностей”, ПДМ, 2019, № 46,  38–57  mathnet  isi 5
27. К. А. Попков, “Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов”, ПДМ, 2019, № 43,  78–100  mathnet  isi  elib 4
28. К. А. Попков, “Минимальные полные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в стандартном базисе”, Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех., 2019, № 4,  54–57  mathnet  mathscinet 1
2018
29. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 25:2 (2018),  62–81  mathnet  elib; K. A. Popkov, “Complete fault detection tests of length 2 for logic networks under stuck-at faults of gates”, J. Appl. Industr. Math., 12:2 (2018), 302–312  scopus 2
30. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018),  99–116  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Short single tests for circuits with arbitrary stuck-at faults at outputs of gates”, Discrete Math. Appl., 29:5 (2019), 321–333  isi  scopus 9
31. К. А. Попков, “О диагностических тестах размыкания для контактных схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 271, 24 стр.  mathnet  elib 1
32. К. А. Попков, “Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 197, 24 стр.  mathnet  elib
33. К. А. Попков, “Минимальные полные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в стандартном базисе”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 161, 7 стр.  mathnet  elib
34. К. А. Попков, “Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 149, 32 стр.  mathnet  elib 2
35. К. А. Попков, “Синтез легкотестируемых схем при однотипных константных неисправностях на входах и выходах элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 087, 18 стр.  mathnet  elib 3
36. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2018, 033, 23 стр.  mathnet  elib 1
37. К. А. Попков, “Синтез легкотестируемых схем при однотипных константных неисправностях на входах и выходах элементов”, Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 22:3 (2018),  131–147  mathnet 3
38. К. А. Попков, “Полные диагностические тесты длины $2$ для схем при инверсных неисправностях функциональных элементов”, Труды МИАН, 301 (2018),  219–224  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Complete diagnostic length $2$ tests for logic networks under inverse faults of logic gates”, Proc. Steklov Inst. Math., 301 (2018), 207–212  isi  elib  scopus 4
2017
39. К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 24:3 (2017),  80–103  mathnet  elib; K. A. Popkov, “On the exact value of the length of the minimal single diagnostic test for a particular class of circuits”, J. Appl. Industr. Math., 11:3 (2017), 431–443  scopus 4
40. К. А. Попков, “О проверяющих тестах размыкания для контактных схем”, Дискрет. матем., 29:4 (2017),  66–86  mathnet  elib; K. A. Popkov, “On fault detection tests of contact break for contact circuits”, Discrete Math. Appl., 28:6 (2018), 369–383  isi  scopus 13
41. К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Дискрет. матем., 29:2 (2017),  53–69  mathnet  elib; K. A. Popkov, “Lower bounds for lengths of single tests for Boolean circuits”, Discrete Math. Appl., 29:1 (2019), 23–33  isi  scopus 11
42. К. А. Попков, “Полные диагностические тесты длины два для схем при инверсных неисправностях функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 105, 10 стр.  mathnet 2
43. К. А. Попков, “Полные проверяющие тесты длины два для схем при произвольных константных неисправностях элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 104, 16 стр.  mathnet 2
44. К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе «конъюнкция-отрицание»”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2017, 030, 31 стр.  mathnet 3
45. К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе “конъюнкция-отрицание””, ПДМ, 2017, № 38,  66–88  mathnet  isi 4
2016
46. К. А. Попков, “О тестах замыкания для контактных схем”, Дискрет. матем., 28:1 (2016),  87–100  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Tests of contact closure for contact circuits”, Discrete Math. Appl., 26:5 (2016), 299–308  isi  scopus 8
47. К. А. Попков, “Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 139, 21 стр.  mathnet 2
48. К. А. Попков, “Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 060, 12 стр.  mathnet 2
49. К. А. Попков, “О единичных диагностических тестах для схем из функциональных элементов в базисе Жегалкина”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 050, 16 стр.  mathnet 7
50. К. А. Попков, “О тестах замыкания для контактных схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2016, 014, 20 стр.  mathnet
51. К. А. Попков, “О единичных диагностических тестах для схем из функциональных элементов в базисе Жегалкина”, Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки, 2016, № 3,  3–18  mathnet 2
52. К. А. Попков, “Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем”, ПДМ, 2016, № 4(34),  65–73  mathnet  isi 10
2015
53. К. А. Попков, “Оценки длин тестов для функциональных элементов при большом числе допустимых неисправностей”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 22:5 (2015),  52–70  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Estimations on lengths of tests of functional elements under a large number of permissible faults”, J. Appl. Industr. Math., 9:4 (2015), 559–569
54. К. А. Попков, “О единичных тестах для функциональных элементов”, Дискрет. матем., 27:2 (2015),  73–93  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Single tests for logical gates”, Discrete Math. Appl., 25:6 (2015), 367–382  isi  scopus 1
55. К. А. Попков, “О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем”, Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша, 2015, 074, 20 стр.  mathnet 8
56. К. А. Попков, “Оценки длин проверяющих и диагностических тестов для контактов”, Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки, 2015, № 2,  108–121  mathnet
57. К. А. Попков, “О единичных тестах для контактов”, Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех., 2015, № 5,  13–18  mathnet  mathscinet; K. A. Popkov, “Single tests for contacts”, Moscow University Mathematics Bulletin, 70:5 (2015), 208–212  isi  scopus
2014
58. К. А. Попков, “Оценки длин проверяющих и диагностических тестов для функциональных элементов”, Дискретн. анализ и исслед. опер., 21:6 (2014),  73–89  mathnet  mathscinet 2
59. К. А. Попков, “Проверяющие и диагностические тесты для функциональных элементов”, Дискрет. матем., 26:2 (2014),  83–99  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Fault detection and diagnostic tests for logic gates”, Discrete Math. Appl., 24:4 (2014), 213–225  scopus 1
60. К. А. Попков, “Проверяющие и диагностические тесты для конъюнкторов, дизъюнкторов и инверторов”, Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех., 2014, № 6,  40–44  mathnet  mathscinet; K. A. Popkov, “Check and diagnostic tests for AND, OR, and NOT gates”, Moscow University Mathematics Bulletin, 69:6 (2014), 267–271  scopus 2
2013
61. К. А. Попков, “Диагностика состояний контактов”, Дискрет. матем., 25:4 (2013),  30–40  mathnet  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “The diagnosis of states of contacts”, Discrete Math. Appl., 23:5-6 (2013), 479–489  scopus 2

Организации
 
  Обратная связь:
  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025