Автоматика и телемеханика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Автомат. и телемех.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Автоматика и телемеханика, 1982, выпуск 8, страницы 162–164 (Mi at5604)  

Заметки

Алгоритм полного перебора тестовых наборов при диагностировании цифровых интегральных схем и сигнатурный анализ

Г. Х. Новик, В. В. Сташин

Москва
Аннотация: Изложен метод тестовой проверки цифровых интегральных микросхем на основе полного перебора входных воздействий и сигнатурного анализа выходных ответов.

Поступила в редакцию: 11.03.1981
Тип публикации: Статья
УДК: 681.326.7:621.382.8
Образец цитирования: Г. Х. Новик, В. В. Сташин, “Алгоритм полного перебора тестовых наборов при диагностировании цифровых интегральных схем и сигнатурный анализ”, Автомат. и телемех., 1982, № 8, 162–164
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{NovSta82}
\by Г.~Х.~Новик, В.~В.~Сташин
\paper Алгоритм полного перебора тестовых наборов при диагностировании цифровых интегральных схем и сигнатурный анализ
\jour Автомат. и телемех.
\yr 1982
\issue 8
\pages 162--164
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/at5604}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/at5604
  • https://www.mathnet.ru/rus/at/y1982/i8/p162
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Автоматика и телемеханика
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025