Автоматика и телемеханика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Автомат. и телемех.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Автоматика и телемеханика, 1976, выпуск 9, страницы 186–194 (Mi at8146)  
Техническая диагностика

Метод проверки кратных неисправностей в дискретных устройствах. II. Устройства с памятью

М. В. Жуков

Москва
PDF полного текста (1888 kB)
Аннотация: Рассматривается метод выделения кратных константных неисправностей устройств с памятью, не обнаруживаемых проверяющей последовательностью, построенной для проверки одиночных неисправностей.

Поступила в редакцию: 24.06.1975
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 007.52.004.6.001.57
Образец цитирования: М. В. Жуков, “Метод проверки кратных неисправностей в дискретных устройствах. II. Устройства с памятью”, Автомат. и телемех., 1976, № 9, 186–194; Autom. Remote Control, 37:9 (1976), 1453–1459
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Zhu76}
\by М.~В.~Жуков
\paper Метод проверки кратных неисправностей в дискретных устройствах. II. Устройства с памятью
\jour Автомат. и телемех.
\yr 1976
\issue 9
\pages 186--194
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/at8146}
\mathscinet{https://mathscinet.ams.org/mathscinet-getitem?mr=439449}
\transl
\jour Autom. Remote Control
\yr 1976
\vol 37
\issue 9
\pages 1453--1459
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/at8146
  • https://www.mathnet.ru/rus/at/y1976/i9/p186
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Автоматика и телемеханика
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025