Computational nanotechnology
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Comp. nanotechnol.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Computational nanotechnology, 2024, том 11, выпуск 1, страницы 104–111
DOI: https://doi.org/10.33693/2313-223X-2024-11-1-104-111
(Mi cn464)
 

МАТЕМАТИЧЕСКОЕ И ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ, КОМПЛЕКСОВ И КОМПЬЮТЕРНЫХ СЕТЕЙ

Advanced electron microscopy image processing for analyzing amorphous alloys: Electron Microscopy Image Cluster Analyzer (EMICA). Tool and results
[Улучшенная электронная микроскопия в обработке изображений для анализа аморфных сплавов: электронно-микроскопический анализатор изображения кластера (EMICA). Инструмент и результаты]

D. S. Dilla, E. V. Pustovalov, A. N. Fedorets

Institute of Mathematics and Computer Technologies, Far Eastern Federal University
Аннотация: В данной статье представлен электронно-микроскопический анализатор изображения кластера (EMICA), представляющий собой программный инструмент, основанный на Python, который позволяет обеспечить качественно новый уровень обработки изображений электронной микроскопии для аморфных сплавов. EMICA решает уникальные проблемы, предоставляя специализированные возможности для анализа кластеров и распознавания пространственных шаблонов. В данном исследовании рассмотрено развитие программного обеспечения и его применение на примерах, доказана эффективность применения при анализе аморфных сплавов. Путем интеграции передовых методов обработки изображений и алгоритмов EMICA выявляет скрытые закономерности, определяются количественные показатели распределения кластеров. В статье показаны возможности использования программного приложения в исследованиях в задачах материаловедения, предоставляя специализированное решение для анализа изображений электронной микроскопии в области аморфных сплавов. В статье сделаны выводы, основанные на реальных примерах и кейсах, которые свидетельствуют об эффективности представленного программного обеспечения в выявлении тонких деталей структур аморфных сплавов. Начиная с идентификации тонких вариаций в атомных конфигурациях и заканчивая количественной оценкой распределений кластеров, EMICA представляет собой значительный шаг вперед в области передовой обработки изображений электронной микроскопии, внося значительный вклад в развитие этой области.
Ключевые слова: аморфные сплавы, электронная микроскопия, анализ кластеров, кластеризация, программные инструменты, алгоритмы.
Финансовая поддержка Номер гранта
ДВФУ ЭФ 22-02-03-005
Работа выполнена при финансовой поддержке ДВФУ ЭФ № 22-02-03-005.
Тип публикации: Статья
УДК: 519.6
Язык публикации: английский
Образец цитирования: D. S. Dilla, E. V. Pustovalov, A. N. Fedorets, “Advanced electron microscopy image processing for analyzing amorphous alloys: Electron Microscopy Image Cluster Analyzer (EMICA). Tool and results”, Comp. nanotechnol., 11:1 (2024), 104–111
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SilPusFed24}
\by D. S. Dilla, E.~V.~Pustovalov, A.~N.~Fedorets
\paper Advanced electron microscopy image processing for analyzing amorphous alloys: Electron Microscopy Image Cluster Analyzer (EMICA). Tool and results
\jour Comp. nanotechnol.
\yr 2024
\vol 11
\issue 1
\pages 104--111
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/cn464}
\crossref{https://doi.org/10.33693/2313-223X-2024-11-1-104-111}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn464
  • https://www.mathnet.ru/rus/cn/v11/i1/p104
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Computational nanotechnology
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025