Компьютерная оптика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Компьютерная оптика:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Компьютерная оптика, 2016, том 40, выпуск 6, страницы 837–843
DOI: https://doi.org/10.18287/2412-6179-2016-40-6-837-843 (Mi co334) 		 
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ

Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии

Н. А. Ивлиевab, В. А. Колпаковa, С. В. Кричевскийa

a Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева, Самара, Россия
b Институт систем обработки изображений РАН - филиал ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Самара, Россия
PDF полного текста (502 kB) Список цитирования (3)
Список литературы:
PDF
HTML
DOI: https://doi.org/10.18287/2412-6179-2016-40-6-837-843
URL: https://www.computeroptics.smr.ru/KO/Annot/KO40-6/400609.html
Аннотация: Представлен метод определения концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния по картам латеральных сил и топологии поверхности, полученным методами атомно-силовой микроскопии. Проведена оптимизация значения скорости сканирования, позволяющая повысить контрастность получаемых изображений и облегчить интерпретацию получаемых данных. Экспериментально показано, что чувствительность разработанной методики достигает значения $10^{-11}$ г/см$^2$.
Ключевые слова: концентрация органических загрязнений, латеральные силы.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации МД-5205.2016.9
Российский фонд фундаментальных исследований 16-07-00494 А
Работа выполнена при поддержке гранта Президента РФ для поддержки молодых российских ученых – докторов наук (№ МД-5205.2016.9), а также гранта РФФИ (№ 16-07-00494 А).
Поступила в редакцию: 21.11.2016
Принята в печать: 09.12.2016
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Н. А. Ивлиев, В. А. Колпаков, С. В. Кричевский, “Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии”, Компьютерная оптика, 40:6 (2016), 837–843
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{IvlKolKri16}
\by Н.~А.~Ивлиев, В.~А.~Колпаков, С.~В.~Кричевский
\paper Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии
\jour Компьютерная оптика
\yr 2016
\vol 40
\issue 6
\pages 837--843
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/co334}
\crossref{https://doi.org/10.18287/2412-6179-2016-40-6-837-843}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/co334
  • https://www.mathnet.ru/rus/co/v40/i6/p837
    • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Компьютерная оптика
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025