Влияние термической обработки на мемристивные свойства конденсаторных структур Cu/(Co$_{40}$Fe$_{40}$B$_{20}$)$_x$ (SiO$_2$)$_{100-x}$/LiNbO$_3$/Cr/Cu/Cr

Представлены результаты исследования влияния термической обработки до 500$^\circ$C на мемристивные свойства структуры конденсаторного типа Cu/(Co$_{40}$Fe$_{40}$B$_{20}$)$_x$ (SiO$_2$)$_{100-x}$/LiNbO$_3$/Cr/Cu/Cr/Sitall. Показано, что термическая обработка до 350$^\circ$C в течение 60 min не изменяет циклическую выносливость образцов $(>10^4)$, увеличивает отношение высокоомного резистивного состояния $(R_{off})$ к низкоомному резистивному состоянию $(R_{on})$ с 25 в исходном состоянии до 60 в термообработанном и уменьшает значения напряжений резистивного переключения до $\pm$ 4 V. Термическая обработка также увеличивает стабильность параметров $R_{on}(t)$, $R_{off}(t)$. Отжиги при температурах выше 350$^\circ$C приводят к значительному увеличению напряжений резистивных переключений. Данный процесс определяется значительным (на несколько порядков величины) увеличением $\rho$ НК при отжигах в диапазоне температур от 400 до 500$^\circ$C.