|
Физика поверхности, тонкие пленки
Количественный анализ пленочных структур с диффузной границей раздела, исследованных методом электронной Оже-спектроскопии
В. Е. Ремеле, М. А. Митцев, М. В. Кузьмин Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Предложена модель для интерпретации результатов электронной Оже-спектроскопии в случае пленочных систем с реакционно-способными границами раздела. Установлена количественная связь параметров переходного слоя и формы зависимостей величины Оже-сигнала подложки от толщины пленки в таких системах. Апробация модели проведена для трех границ раздела редкоземельный металл (Yb, Sm, Gd) – Si(111). Получены количественные данные, касающиеся их структуры и стехиометрического состава, а также зависимости указанных характеристик от термодинамических свойств исследованных редкоземельных металлов.
Ключевые слова:
поверхность, тонкие пленки, граница раздела, электронная Оже-спектроскопия, редкоземельные металлы, кремний.
Поступила в редакцию: 25.06.2023 Исправленный вариант: 25.06.2023 Принята в печать: 03.07.2023
Образец цитирования:
В. Е. Ремеле, М. А. Митцев, М. В. Кузьмин, “Количественный анализ пленочных структур с диффузной границей раздела, исследованных методом электронной Оже-спектроскопии”, Физика твердого тела, 65:9 (2023), 1611–1617
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt10817 https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v65/i9/p1611
|
|