|
|
Физика твердого тела, 2015, том 57, выпуск 4, страницы 807–813
(Mi ftt11429)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 28 научных статьях (всего в 28 статьях)
Физика поверхности, тонкие пленки
Исследование резистивного переключения вертикально ориентированной углеродной нанотрубки методами сканирующей зондовой микроскопии
О. А. Агеев, Ю. Ф. Блинов, О. И. Ильин, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, В. А. Смирнов, А. А. Федотов Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения Южного федерального университетa, Таганрог, Россия
Аннотация:
Представлены результаты экспериментальных исследований методами сканирующей зондовой микроскопии влияния внешнего электрического поля на электромеханические свойства и закономерности резистивного переключения вертикально ориентированной углеродной нанотрубки (ВОУНТ). Показано, что отношение сопротивлений ВОУНТ в высокоомном и низкоомном состояниях превышает 25 при расстоянии между зондом сканирующего туннельного микроскопа и ВОУНТ 1 nm и напряжении 8 V, и зависит от величины напряжения, прикладываемого между зондом и ВОУНТ. Предложен механизм резистивного переключения ВОУНТ, основанный на мгновенной деформации и возникновении внутреннего электрического поля ВОУНТ в результате резкого изменения производной напряженности внешнего электрического поля по времени. Полученные результаты могут быть использованы при разработке и создании элементов резистивной энергоэффективной памяти с высокой плотностью ячеек на основе вертикально ориентированных углеродных нанотрубок.
Поступила в редакцию: 10.09.2014 Исправленный вариант: 27.10.2014
Образец цитирования:
О. А. Агеев, Ю. Ф. Блинов, О. И. Ильин, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, В. А. Смирнов, А. А. Федотов, “Исследование резистивного переключения вертикально ориентированной углеродной нанотрубки методами сканирующей зондовой микроскопии”, Физика твердого тела, 57:4 (2015), 807–813; Phys. Solid State, 57:4 (2015), 825–831
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ftt11429 https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v57/i4/p807
|
|