Влияние концентрации интеркалированных атомов и температуры на релаксационные процессы при переносе заряда в соединениях Cu$_x$HfSe$_2$

На интеркалированных образцах Cu$_x$HfSe$_2$ ($x$ = 0.1, 0.2) впервые получены температурные зависимости импедансных спектров в области частот 0.1 Hz – 5 MHz. Показано, что характерные времена релаксационных процессов уменьшаются при возрастании содержания меди в образцах и при увеличении температуры. При этом область частотной дисперсии комплексной проводимости смещается в область более высоких частот. Частотные и температурные зависимости тангенса угла потерь для исследованных образцов являются характерными для потерь на сквозную проводимость.