Электродинамические характеристики оксида бериллия в субмиллиметровом–инфракрасном диапазоне

Экспериментальное исследование монокристаллического оксида бериллия методами субмиллиметровой–инфракрасной спектроскопии и нелинейной оптики выполнено в диапазоне волновых чисел 2–5000 cm$^{-1}$ в интервале температур 80–300 K. С помощью расчетных моделей определены дисперсионные параметры фононов и нерезонансных полос поглощения. Выявлены механизмы, ответственные за формирование диэлектрических потерь в терагерцевом диапазоне. Показано, что решающий вклад в потери вносят низкочастотные дипольные возбуждения, в том числе включая двухфононные разностные процессы, и этот вклад на два порядка превышает фононный. Методом когерентного антистоксова комбинационного рассеяния света определены коэффициенты поглощения на поляритонах нижней дисперсионной ветви.