Исследование методом импедансной спектроскопии допированных ионным сурфактантом жидких кристаллов

Методом импедансной спектроскопии исследовано влияние постоянного электрического поля на электрофизические характеристики нематических жидких кристаллов из серии алкилцианобифенилов $n$СВ ($n$ = 6–8) и многокомпонентной жидкокристаллической смеси МВ-1, допированных ионным сурфактантом. Установлено, что импедансные спектры существенно зависят от величины подаваемого на образец постоянного напряжения смещения. Проведена аппроксимация измеренных спектров с использованием разработанных эквивалентных схем ячейки с образцом, позволившая определить емкость двойного электрического слоя, удельную проводимость образцов, а также подвижность, концентрацию и коэффициент диффузии ионов. Показано, что в диапазоне частот $f<$ 100 Hz вблизи электродов измерительной ячейки с жидкокристаллическим образцом возникает область пространственного заряда, приводящая к увеличению активной (резистивной) и реактивной (емкостной) компонент импеданса.