Влияние преломления ионного луча на границе электрического поля в масс-спектрографе с лазерным источником ионов

Приведены результаты экспериментального исследования влияния преломления пучка ионов на границах электрического поля в масс-спектрографе с двойной фокусировкой с лазерным источником ионов и проведено сравнение их с данными, полученными на ЭВМ по математической модели. Показано, что изменение потенциала точки ввода ионного пучка в электрическое поле приводит к падению разрешения масс-спектрографа в 2$-$3 раза при одновременном смещении масс-линий в фокальной плоскости масс-анализатора. При этом максимум одноразрядных ионов совпадает с максимумом разрешающей способности прибора, а доля многозарядных ионов снижена. Опробован электрический метод уменьшения аберраций, вызванных эффектом преломления ионного пучка на границах электрического поля.