Измерение оптических постоянных окиснованадиевых пленок из угловых зависимостей отражательной способности

Описан эксперимент по измерению оптических констант и толщин окиснованадиевых пленок, нанесенных на алюминиевый подслой, которые применяются в устройствах оптической обработки информации. Показано, что оптические константы пленки и подслоя зависят от условий вакуумного осаждения. Измерены петли гистерезиса оптических констант $n$ и $k$ на длинах волн 632.8 и 1152.3 нм. Показано, что дифракционная эффективность окиснованадиевой пленки $\eta$ рассчитанная с использованием полученных значений $n,\,k$ и толщины пленки, хорошо совпадает с результатами независимых измерений $\eta$.