Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 1992, том 62, выпуск 4, страницы 156–161 (Mi jtf4636)  
Приборы и техника эксперимента

Двумерный анализ аноднообработанных слоев

Л. М. Лыньков, С. Л. Прищепа, В. А. Самохвал, Л. В. Семеняков
PDF полного текста (2455 kB)
Аннотация: Разработан метод двумерного анализа, основанный на определении пространственной корреляции исследуемых пористых аноднообработанных (ПАО) слоев Al$_{2}$O$_{3}$. Приводятся корреляционные функции прямой и «обратной» поверхностей ПАО пленки Al$_{2}$O$_{3}$. Рассматриваются процессы, проходящие при анодировании двухслойной структуры Al$-$Nb.
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Л. М. Лыньков, С. Л. Прищепа, В. А. Самохвал, Л. В. Семеняков, “Двумерный анализ аноднообработанных слоев”, ЖТФ, 62:4 (1992), 156–161
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{1}
\by Л.~М.~Лыньков, С.~Л.~Прищепа, В.~А.~Самохвал, Л.~В.~Семеняков
\paper Двумерный анализ аноднообработанных слоев
\jour ЖТФ
\yr 1992
\vol 62
\issue 4
\pages 156--161
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf4636}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf4636
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v62/i4/p156
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025