|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Твердотельная электроника
Релаксация механических напряжений в эпитаксиальных пленках кубического карбида кремния на кремниевых подложках с буферным пористым слоем
А. С. Гусев, Н. И. Каргин, С. М. Рындя, Г. К. Сафаралиев, Н. В. Сигловая, М. О. Смирнова, И. О. Соломатин, А. О. Султанов, А. А. Тимофеев Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", г. Москва
Аннотация:
Результаты работы количественно и качественно освещают процессы релаксации напряжений несоответствия, возникающих при эпитаксии кубического карбида кремния на кремнии. Проведен анализ распределений механических напряжений в гетероструктурах 3$C$–SiC/Si и 3$C$–SiC/$por$-Si. Показана существенная роль пористого буферного слоя в уменьшении величины напряжений несоответствия. Данные теоретического исследования подтверждены экспериментальными значениями остаточных напряжений в образцах 3$C$–SiC/Si и 3$C$–SiC/$por$-Si.
Ключевые слова:
карбид кремния, пористый кремний, остаточные напряжения, дислокации несоответствия.
Поступила в редакцию: 30.12.2020 Исправленный вариант: 19.01.2021 Принята в печать: 21.01.2021
Образец цитирования:
А. С. Гусев, Н. И. Каргин, С. М. Рындя, Г. К. Сафаралиев, Н. В. Сигловая, М. О. Смирнова, И. О. Соломатин, А. О. Султанов, А. А. Тимофеев, “Релаксация механических напряжений в эпитаксиальных пленках кубического карбида кремния на кремниевых подложках с буферным пористым слоем”, ЖТФ, 91:6 (2021), 988–996; Tech. Phys., 66:7 (2021), 869–877
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf4996 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v91/i6/p988
|
|