|
Физические приборы и методы эксперимента
Использование атомных пучков средних энергий для твердотельной PIXE-диагностики
И. Т. Серенков, В. И. Сахаров Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Рассмотрены возможности использования ионных пучков средних (сотни keV) энергий для диагностики твердого тела методом измерения спектров характеристического рентгеновского излучения. Предложена модификация метода, состоящая в применении пучков нейтральных атомов в качестве зондирующих. Показано, что переход на такие пучки позволяет исключить негативное влияние эффектов, связанных с возникновением поверхностного потенциала, обусловленного накоплением заряда, при работе с диэлектрическими образцами.
Ключевые слова:
характеристическое рентгеновское излучение, диагностика твердого тела, ионные пучки, средние энергии.
Поступила в редакцию: 17.06.2020 Исправленный вариант: 14.07.2020 Принята в печать: 06.08.2020
Образец цитирования:
И. Т. Серенков, В. И. Сахаров, “Использование атомных пучков средних энергий для твердотельной PIXE-диагностики”, ЖТФ, 91:1 (2021), 163–168; Tech. Phys., 66:1 (2021), 155–160
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf5115 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v91/i1/p163
|
|