Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2022, том 92, выпуск 8, страницы 1113–1123
DOI: https://doi.org/10.21883/jtf.2022.08.52771.101-22
(Mi jtf7404)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

XXVI Международный симпозиум " Нанофизика и наноэлектроника" , Н. Новгород, 14-17 марта 2022 г.
Твердое тело

Методика исследования изменения формы пластин и тонкопленочных мембран с использованием геоморфометрических подходов

А. А. Дедковаab, И. В. Флоринскийb, Н. А. Дюжевa

a Национальный исследовательский университет "МИЭТ", 124498 Зеленоград, Москва, Россия
b Институт математических проблем биологии РАН— филиал ИПМ им. М.В. Келдыша РАН, 142290 Пущино, Московская обл., Россия
Аннотация: Рассмотрена методика исследования изменения сложного рельефа и формы структур с использованием подходов геоморфометрии для изучения поверхности пластин и сформированных Bosch-процессом мембран. Проанализированы пластины до и после нанесения слоя SiO$_2$, мембраны при реализации метода выдувания. Исследование изменения рельефа поверхности проведено по картам водосборной площади и главных кривизн с учетом артефактов аппроксимации экспериментальных данных. Обнаружено соответствие между распределением линий, соединяющих наивысшие области поверхности – до и после нанесения слоя SiO$_2$ на пластины. На мембранах со структурами Al(0.8 $\mu$m)/SiO$_2$(0.6 $\mu$m)/Al(1.1 $\mu$m), pSi$^*$ (0.8 $\mu$m)/SiN$_x$(0.13 $\mu$m)/SiO$_2$, Al(0.6 $\mu$m) обнаружено, что особенности границы мембран обусловлены в большей степени их начальной формой, чем изменением под действием приложенной нагрузки. Показаны преимущества методов геоморфометрии для исследования изменения формы пластин и тонкопленочных мембран в технологических процессах производства микроэлектронных приборов по сравнению с традиционными методами анализа карт рельефа поверхности.
Ключевые слова: тонкие пленки, мембрана, дефект, механические характеристики, механические напряжения, деформация, прогиб, микроэлектромеханические системы, МЭМС, круглая мембрана, кремниевая подложка, оптическая профилометрия, избыточное давление, геоморфометрия, гауссова кривизна, коробление, главные кривизны, пластина, метод выдувания, цифровое моделирование рельефа, ЦМР, поверхность, рельеф.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 22-21-00614
Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда № 22-21-00614.
Поступила в редакцию: 16.04.2022
Исправленный вариант: 16.04.2022
Принята в печать: 16.04.2022
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. А. Дедкова, И. В. Флоринский, Н. А. Дюжев, “Методика исследования изменения формы пластин и тонкопленочных мембран с использованием геоморфометрических подходов”, ЖТФ, 92:8 (2022), 1113–1123
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{DedFloDju22}
\by А.~А.~Дедкова, И.~В.~Флоринский, Н.~А.~Дюжев
\paper Методика исследования изменения формы пластин и тонкопленочных мембран с использованием геоморфометрических подходов
\jour ЖТФ
\yr 2022
\vol 92
\issue 8
\pages 1113--1123
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf7404}
\crossref{https://doi.org/10.21883/jtf.2022.08.52771.101-22}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=48645844}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf7404
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v92/i8/p1113
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025