Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2022, том 92, выпуск 8, страницы 1202–1206
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2022.08.52784.80-22 (Mi jtf7417) 		 
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

XXVI Международный симпозиум " Нанофизика и наноэлектроника" , Н. Новгород, 14-17 марта 2022 г.
Фотоника

Система визуализации плазменного факела бетатронного источника рентгеновского излучения

Е. С. Антюшинa, А. А. Ахсахалянa, С. Ю. Зуевa, А. Я. Лопатинa, И. В. Малышевa, А. Н. Нечайa, А. А. Перекаловa, А. Е. Пестовa, Н. Н. Салащенкоa, М. Н. Тороповa, Б. А. Уласевичa, Н. Н. Цыбинa, Н. И. Чхалоa, А. А. Соловьевb, М. В. Стародубцевb

a Институт физики микроструктур РАН, 607680 Нижний Новгород, Россия
b Институт прикладной физики РАН, 603950 Нижний Новгород, Россия
PDF полного текста (1193 kB) Список цитирования (2)
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2022.08.52784.80-22
Аннотация: Описана конструкция микроскопа для изучения бетатронного источника излучения на базе фемтосекундного лазерного комплекса PEARL в мягком рентгеновском (МР) и экстремально ультрафиолетовом (ЭУФ) диапазоне длин волн. Основной оптический элемент микроскопа – сферический объектив Шварцшильда с пятикратным увеличением. Прибор позволил исследовать размеры и пространственную структуру области взаимодействия лазерного излучения с веществом, на выбранной длине волны в ЭУФ или МР диапазоне с разрешением $\delta x$ = 2.75 $\mu$m. Рабочая длина волны ($\lambda$ = 13.5 nm) задается многослойными рентгеновскими зеркалами. Для подавления фоновой составляющей сигнала использованы тонкопленочные абсорбционные фильтры.
Ключевые слова: МР и ЭУФ излучение, изображающая рентгеновская оптика, МР микроскоп, бетатронное излучение.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации 075-15-2021-1361
Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации (соглашение № 075-15-2021-1361).
Поступила в редакцию: 05.04.2022
Исправленный вариант: 05.04.2022
Принята в печать: 05.04.2022
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Е. С. Антюшин, А. А. Ахсахалян, С. Ю. Зуев, А. Я. Лопатин, И. В. Малышев, А. Н. Нечай, А. А. Перекалов, А. Е. Пестов, Н. Н. Салащенко, М. Н. Торопов, Б. А. Уласевич, Н. Н. Цыбин, Н. И. Чхало, А. А. Соловьев, М. В. Стародубцев, “Система визуализации плазменного факела бетатронного источника рентгеновского излучения”, ЖТФ, 92:8 (2022), 1202–1206
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{AntAkhZue22}
\by Е.~С.~Антюшин, А.~А.~Ахсахалян, С.~Ю.~Зуев, А.~Я.~Лопатин, И.~В.~Малышев, А.~Н.~Нечай, А.~А.~Перекалов, А.~Е.~Пестов, Н.~Н.~Салащенко, М.~Н.~Торопов, Б.~А.~Уласевич, Н.~Н.~Цыбин, Н.~И.~Чхало, А.~А.~Соловьев, М.~В.~Стародубцев
\paper Система визуализации плазменного факела бетатронного источника рентгеновского излучения
\jour ЖТФ
\yr 2022
\vol 92
\issue 8
\pages 1202--1206
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf7417}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2022.08.52784.80-22}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=48645857}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf7417
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v92/i8/p1202
    • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025