|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
XXVI Международный симпозиум " Нанофизика и наноэлектроника" , Н. Новгород, 14-17 марта 2022 г.
Физическая электроника
Изучение влияния энергии ионов аргона на шероховатость поверхности основных срезов монокристаллического кремния
М. С. Михайленко, А. Е. Пестов, А. К. Чернышев, М. В. Зорина, Н. И. Чхало, Н. Н. Салащенко Институт физики микроструктур РАН, 607680 Нижний Новгород, Россия
Аннотация:
Приведены результаты изучения энергетических зависимостей коэффициента распыления и значения эффективной шероховатости поверхности монокристаллического кремния при облучении ионами аргона с энергией 200–1000 eV. В результате работы были определены параметры ионно-пучкового травления ускоренными ионами Ar, обеспечивающие высокий коэффициент распыления (скорость травления) и значение эффективной шероховатости в диапазоне пространственных частот 4.9$\cdot$10$^{-2}$–6.3$\cdot$10$^1$ $\mu$m$^{-1}$ менее 0.3 nm для основных срезов монокристаллического кремния $\langle$100$\rangle$, $\langle$110$\rangle$ и $\langle$111$\rangle$.
Ключевые слова:
ионное травление, монокристаллический кремний, шероховатость поверхности, малоразмерный ионный пучок, коэффициент распыления.
Поступила в редакцию: 06.04.2022 Исправленный вариант: 06.04.2022 Принята в печать: 06.04.2022
Образец цитирования:
М. С. Михайленко, А. Е. Пестов, А. К. Чернышев, М. В. Зорина, Н. И. Чхало, Н. Н. Салащенко, “Изучение влияния энергии ионов аргона на шероховатость поверхности основных срезов монокристаллического кремния”, ЖТФ, 92:8 (2022), 1219–1223
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf7420 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v92/i8/p1219
|
|