Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2025, том 95, выпуск 5, страницы 1008–1017
DOI: https://doi.org/10.61011/JTF.2025.05.60293.18-25
(Mi jtf7577)
 

XII Международный симпозиум ''Оптика и биофотоника'' (Saratov Fall Meeting 2024), Саратов, 23-27 сентября 2024 г.
Акустика, акустоэлектроника

Мониторинг накопления повреждений методом акустической эмиссии в процессе механических и температурных деформаций монокристалла парателлурита

А. С. Мачихинab, А. Ю. Марченковa, Д. В. Черновc, Т. Д. Баландинac, М. О. Шариковаab, А. А. Быковab, Д. Д. Хохловab, Я. А. Элиовичd, Ю. В. Писаревскийd, А. А. Панькинаa

a Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт», 111250 Москва, Россия
b Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН, 117342 Москва, Россия
c Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, 101990 Москва, Россия
d Курчатовский комплекс кристаллографии и фотоники НИЦ "Курчатовский институт", 119333 Москва, Россия
DOI: https://doi.org/10.61011/JTF.2025.05.60293.18-25
Аннотация: Рассмотрена задача выявления дефектов в монокристаллах парателлурита методом акустической эмиссии. Впервые исследования проведены на кристаллах, конфигурация которых и геометрия акустооптического взаимодействия в которых соответствует применяемой в широко распространенных устройствах – перестраиваемых спектральных фильтрах. Установлено, что высокочастотные акустические сигналы в рабочем диапазоне частот 27–60 MHz такого устройства не оказывают влияние на регистрацию сигналов акустической эмиссии. Предложены и экспериментально подтверждены комплексные критерии, позволяющие по параметрам сигналов акустической эмиссии выявлять моменты возникновения трещин в монокристаллах парателлурита под действием механических напряжений и градиентов температур. Предложенный подход позволяет в режиме реального времени определить фактическое состояние монокристалла парателлурита при воздействии как механических, так и температурных напряжений.
Ключевые слова: деформация, кристалл, парателлурит, акустическая эмиссия, статистическая обработка, амплитудно-частотная характеристика.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации 075-15-2024-637
Исследование выполнено при поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации в рамках Соглашения № 075-15-2024-637 от 28.06.2024 г.
Поступила в редакцию: 15.10.2024
Исправленный вариант: 06.02.2025
Принята в печать: 06.02.2025
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. С. Мачихин, А. Ю. Марченков, Д. В. Чернов, Т. Д. Баландин, М. О. Шарикова, А. А. Быков, Д. Д. Хохлов, Я. А. Элиович, Ю. В. Писаревский, А. А. Панькина, “Мониторинг накопления повреждений методом акустической эмиссии в процессе механических и температурных деформаций монокристалла парателлурита”, ЖТФ, 95:5 (2025), 1008–1017
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MacMarChe25}
\by А.~С.~Мачихин, А.~Ю.~Марченков, Д.~В.~Чернов, Т.~Д.~Баландин, М.~О.~Шарикова, А.~А.~Быков, Д.~Д.~Хохлов, Я.~А.~Элиович, Ю.~В.~Писаревский, А.~А.~Панькина
\paper Мониторинг накопления повреждений методом акустической эмиссии в процессе механических и температурных деформаций монокристалла парателлурита
\jour ЖТФ
\yr 2025
\vol 95
\issue 5
\pages 1008--1017
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf7577}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=82290488}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf7577
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v95/i5/p1008
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025