Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2015, том 85, выпуск 6, страницы 137–142 (Mi jtf7811)  

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Физическая электроника

Атомно-молекулярная модель граничного трения в микротрибоконтактах поверхностей полупроводниковых и диэлектрических материалов

В. А. Колпаковa, Н. А. Ивлиевab

a Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С. П. Королёва, 443123 Самара, Россия
b Институт систем обработки изображений РАН, 443001 Самара, Россия
Аннотация: Рассмотрены механизмы механического и молекулярного трения полупроводниковых и диэлектрических подложек при трибометрическом взаимодействии их поверхностей. Показаны возможности применения теории И.В. Крагельского для аналитического определения механической составляющей силы трения и адгезионной модели трения, устанавливающих связь между параметрами механизма точечного трибометрического взаимодействия подложек, имеющих одинаковую степень загрязнения, и концентрацией органических молекул адсорбированных поверхностями. Полученная аналитическая зависимость позволяет определять концентрацию атомов и молекул, адсорбируемых поверхностью в пределах до 10$^{-10}$ g/cm$^2$. Расхождение теоретических и экспериментальных результатов не превышает 18%.
Поступила в редакцию: 11.09.2014
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2015, Volume 60, Issue 6, Pages 922–927
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784215060122
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. А. Колпаков, Н. А. Ивлиев, “Атомно-молекулярная модель граничного трения в микротрибоконтактах поверхностей полупроводниковых и диэлектрических материалов”, ЖТФ, 85:6 (2015), 137–142; Tech. Phys., 60:6 (2015), 922–927
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KolIvl15}
\by В.~А.~Колпаков, Н.~А.~Ивлиев
\paper Атомно-молекулярная модель граничного трения в микротрибоконтактах поверхностей полупроводниковых и диэлектрических материалов
\jour ЖТФ
\yr 2015
\vol 85
\issue 6
\pages 137--142
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf7811}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=24196118}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2015
\vol 60
\issue 6
\pages 922--927
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784215060122}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf7811
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v85/i6/p137
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025