|
|
Журнал технической физики, 2015, том 85, выпуск 11, страницы 1–29
(Mi jtf7925)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 15 научных статьях (всего в 15 статьях)
Исследование атомной, кристаллической, доменной структуры материалов на основе анализа дифракционных и абсорбционных рентгеновских данных (Обзор)
М. Е. Бойко, М. Д. Шарков, А. М. Бойко, С. Г. Конников, А. В. Бобыль, Н. С. Будкина Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Описаны способы получения и анализа экспериментальных данных при использовании рентгеновских методов исследования материалов. Наибольшее внимание уделено методам EXAFS, рентгеновской дифрактометрии и малоуглового рассеяния рентгеновских лучей.
Поступила в редакцию: 31.03.2015
Образец цитирования:
М. Е. Бойко, М. Д. Шарков, А. М. Бойко, С. Г. Конников, А. В. Бобыль, Н. С. Будкина, “Исследование атомной, кристаллической, доменной структуры материалов на основе анализа дифракционных и абсорбционных рентгеновских данных (Обзор)”, ЖТФ, 85:11 (2015), 1–29; Tech. Phys., 60:11 (2015), 1575–1600
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf7925 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v85/i11/p1
|
|