|
|
Журнал технической физики, 2013, том 83, выпуск 6, страницы 128–133
(Mi jtf8468)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Твердотельная электроника
Механизм насыщения фототока и возникновения отрицательной дифференциальной фотопроводимости в гетеропереходах Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–Мn$_4$Si$_7$ и Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–М
Т. С. Камиловa, В. В. Клечковскаяb, Б. З. Шариповa, Г. И. Ивакинb a Ташкентский государственный технический университет им. А. Р. Беруни
b Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, г. Москва
Аннотация:
Работа посвящена установлению механизма насыщения фототока и возникновению отрицательной дифференциальной фотопроводимости (ФП) в гетеропереходах Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–Мn$_4$Si$_7$ и Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–М. Структуры Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–Мn$_4$Si$_7$ и Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–М исследованы с помощью модели встречно-включенных диодов. Измерены фотовольтамперные характеристики (ФВАХ) при постоянном и импульсном режимах высокого приложенного напряжения смещения. Установлено, что в гетеропереходах нелинейные особенности ФВАХ и кинетики ФП связаны с тепловым гашением фотопроводимости за счет самонагрева джоулевым теплом.
Поступила в редакцию: 06.12.2011 Принята в печать: 03.05.2012
Образец цитирования:
Т. С. Камилов, В. В. Клечковская, Б. З. Шарипов, Г. И. Ивакин, “Механизм насыщения фототока и возникновения отрицательной дифференциальной фотопроводимости в гетеропереходах Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–Мn$_4$Si$_7$ и Мn$_4$Si$_7$–Si$\langle$Mn$\rangle$–М”, ЖТФ, 83:6 (2013), 128–133; Tech. Phys., 58:6 (2013), 902–906
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf8468 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v83/i6/p128
|
|