Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2012, том 82, выпуск 5, страницы 100–105 (Mi jtf8825)  

Акустика, акустоэлектроника

Применение ультразвуковых поверхностных и нормальных волн для измерений параметров технических жидкостей. II. Измерение плотности

М. Б. Гитис, В. А. Чуприн

Научно-промышленная компания "Луч", 143930 Балашиха, Московская область, Россия
Аннотация: Рассмотрено влияние жидкости на поверхностные волны, распространяющиеся в волноводе вдоль его границы с жидкостью. Оценено влияние сдвиговой и объемной вязкостей жидкости на коэффициент затухания такой поверхностной волны. Показано, что при точности измерений порядка 10$^{-3}$ влиянием жидкостей можно пренебрегать, если их сдвиговая вязкость менее 0.1 Pa $\cdot$ s. При более высоких значениях вязкости необходимо введение поправок, учитывающих вклад вязких потерь в измеренный коэффициент затухания поверхностной волны. Описана методика калибровки датчика плотности для маловязких жидкостей и проведены измерения плотности растворов NaCl и сахарозы в дистилированной воде. Эксперимент качественно согласуется с теоретическими оценками. Отмечено, что такой метод измерения продольного импеданса жидкостей позволяет использовать идентичную аппаратурную реализацию и по используемому методу (импульсный), и по частотному диапазону (1–10 MHz) для измерений плотности, обеих вязкостей, скорости и коэффициента поглощения звука жидкости, которая практически не отличается от используемой в средствах неразрушающего контроля качества материала и изделий.
Поступила в редакцию: 12.04.2011
Принята в печать: 26.07.2011
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2012, Volume 57, Issue 5, Pages 677–682
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784212050118
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: М. Б. Гитис, В. А. Чуприн, “Применение ультразвуковых поверхностных и нормальных волн для измерений параметров технических жидкостей. II. Измерение плотности”, ЖТФ, 82:5 (2012), 100–105; Tech. Phys., 57:5 (2012), 677–682
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GitChu12}
\by М.~Б.~Гитис, В.~А.~Чуприн
\paper Применение ультразвуковых поверхностных и нормальных волн для измерений параметров технических жидкостей. II.~Измерение плотности
\jour ЖТФ
\yr 2012
\vol 82
\issue 5
\pages 100--105
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf8825}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20325583}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2012
\vol 57
\issue 5
\pages 677--682
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784212050118}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf8825
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v82/i5/p100
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025