|
|
Журнал технической физики, 2012, том 82, выпуск 7, страницы 79–84
(Mi jtf8875)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Оптика, квантовая электроника
Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок Ba$_{0.8}$Sr$_{0.2}$TiO$_3$
В. Б. Широковab, Ю. И. Головкоa, В. М. Мухортовa a Южный научный центр РАН, 344006 Ростов-на-Дону, Россия
b Южный федеральный университет,
344090 Ростов-на-Дону, Россия
Аннотация:
Исследованы свойства наноразмерных пленок (Ba$_{0.8}$Sr$_{0.2}$)TiO$_3$ на монокристаллических подложках окиси магния. Пленки изготовлены по методу высокочастотного распыления при осаждении по слоевому механизму роста. Измерения параметров решетки выполнены с помощью методов рентгеновской дифракции. Пропускание пленок различной толщины исследовано в диапазоне длин волн 190–1100 nm. При анализе экспериментальных оптических характеристик для определения коэффициента преломления и поглощения в дисперсионной формуле использованы дополнительные, релаксационные слагаемые, отражающие конечное время жизни осциллятора, что позволило более точно провести аппроксимацию экспериментальных данных.
Поступила в редакцию: 27.06.2011
Образец цитирования:
В. Б. Широков, Ю. И. Головко, В. М. Мухортов, “Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок Ba$_{0.8}$Sr$_{0.2}$TiO$_3$”, ЖТФ, 82:7 (2012), 79–84; Tech. Phys., 57:7 (2012), 975–980
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf8875 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v82/i7/p79
|
|