Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2012, том 82, выпуск 11, страницы 111–115 (Mi jtf8975)  
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Приборы и методы эксперимента

Способы оценки толщины осадков на поверхности охлаждаемых оптических элементов в вакуумных условиях с источниками загрязнения

Е. В. Калашников, С. Н. Калашникова

Научно-исследовательский институт комплексных испытаний оптико-электронных приборов и систем, г. Сосновый Бор, Ленинградская обл.
PDF полного текста (231 kB) Список цитирования (1)
Аннотация: Описан простой способ оценки загрязнения (толщины и скорости роста слоя осадков) поверхностей элементов оптической системы, используемой в вакуумных условиях. Приведены экспериментальные результаты физического моделирования загрязнения бортовой оптики космического аппарата на орбите в условиях наличия собственной внешней атмосферы и сделано сравнение экспериментальных результатов с расчетными значениями. Результаты работы могут быть использованы при криостатировании оптических элементов в остаточной атмосфере вакуумной камеры.
Поступила в редакцию: 27.12.2011
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2012, Volume 57, Issue 11, Pages 1574–1578
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784212110138
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Е. В. Калашников, С. Н. Калашникова, “Способы оценки толщины осадков на поверхности охлаждаемых оптических элементов в вакуумных условиях с источниками загрязнения”, ЖТФ, 82:11 (2012), 111–115; Tech. Phys., 57:11 (2012), 1574–1578
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KalKal12}
\by Е.~В.~Калашников, С.~Н.~Калашникова
\paper Способы оценки толщины осадков на поверхности охлаждаемых оптических элементов в вакуумных условиях с источниками загрязнения
\jour ЖТФ
\yr 2012
\vol 82
\issue 11
\pages 111--115
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf8975}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20325733}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2012
\vol 57
\issue 11
\pages 1574--1578
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784212110138}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf8975
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v82/i11/p111
    • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025