Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2011, том 81, выпуск 5, страницы 69–74 (Mi jtf9127)  

Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)

Твердотельная электроника

Новые возможности количественного анализа в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов структур Fe/Si

А. С. Паршинab, С. А. Кущенковa, Г. А. Александроваa, С. Г. Овчинниковb

a Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева, 660014 Красноярск, Россия
b Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, 660036 Красноярск, Россия
Аннотация: На примере слоистых структур железа на кремниевых подложках показана возможность определения элементного состава, химического состояния и распределения элементов по толщине приповерхностной области из результатов компьютерного моделирования сечения неупругого рассеяния электронов в рамках диэлектрической теории и экспериментального определения произведения средней длины неупругого пробега на сечение неупругого рассеяния электронов по потерям энергии из спектров потерь энергии отраженных электронов.
Поступила в редакцию: 24.06.2010
Принята в печать: 13.10.2010
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2011, Volume 56, Issue 5, Pages 656–661
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784211050264
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. С. Паршин, С. А. Кущенков, Г. А. Александрова, С. Г. Овчинников, “Новые возможности количественного анализа в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов структур Fe/Si”, ЖТФ, 81:5 (2011), 69–74; Tech. Phys., 56:5 (2011), 656–661
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ParKusAle11}
\by А.~С.~Паршин, С.~А.~Кущенков, Г.~А.~Александрова, С.~Г.~Овчинников
\paper Новые возможности количественного анализа в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов структур Fe/Si
\jour ЖТФ
\yr 2011
\vol 81
\issue 5
\pages 69--74
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf9127}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20324947}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2011
\vol 56
\issue 5
\pages 656--661
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784211050264}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf9127
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v81/i5/p69
  • Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025