|
|
Журнал технической физики, 2011, том 81, выпуск 9, страницы 77–81
(Mi jtf9235)
|
|
|
|
Оптика, квантовая электроника
Установка для измерения спектров излучения широкозонных полупроводниковых материалов
Ю. В. Тубольцев, М. М. Мездрогина, Е. М. Хилькевич, Ю. В. Чичагов, Н. К. Полетаев, Р. В. Кузьмин Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Разработана установка для измерения спектров излучения широкозонных полупроводниковых соединений III-нитридов и гетероструктур на их основе. Созданная система позволяет измерять временные распределения интенсивности люминесценции исследуемых структур и материалов на фиксированной длине волны с разрешением $\pm$ 5 ns с частотой регистрации событий до 10 MHz во временном диапазоне от единиц до сотен микросекунд, а также осуществлять построение зависимости интегральной интенсивности люминесценции от длины волны. Имеется режим прецизионных измерений.
Поступила в редакцию: 02.11.2010
Образец цитирования:
Ю. В. Тубольцев, М. М. Мездрогина, Е. М. Хилькевич, Ю. В. Чичагов, Н. К. Полетаев, Р. В. Кузьмин, “Установка для измерения спектров излучения широкозонных полупроводниковых материалов”, ЖТФ, 81:9 (2011), 77–81; Tech. Phys., 56:9 (2011), 1297–1301
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf9235 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v81/i9/p77
|
|