|
|
Журнал технической физики, 2011, том 81, выпуск 9, страницы 82–88
(Mi jtf9236)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Оптика, квантовая электроника
Исследование влияния мелкомасштабных неоднородностей на электрофизические характеристики тонкого слоя методом внутрирезонаторной лазерной спектроскопии
К. Г. Куликов Санкт-Петербургский государственный политехнический университет,
197046 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Построена математическая модель, которая позволяет варьировать характерные размеры шероховатости, электрофизические параметры исследуемого биологического образца, геометрические характеристики и устанавливать зависимости между ними и биологическими свойствами моделируемой биоткани, а также делает возможным теоретически рассчитывать спектры поглощения оптически тонких биологических образцов, помещенных в полость оптического резонатора.
Поступила в редакцию: 24.01.2011
Образец цитирования:
К. Г. Куликов, “Исследование влияния мелкомасштабных неоднородностей на электрофизические характеристики тонкого слоя методом внутрирезонаторной лазерной спектроскопии”, ЖТФ, 81:9 (2011), 82–88; Tech. Phys., 56:9 (2011), 1302–1309
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf9236 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v81/i9/p82
|
|