Размеры областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения в тонких пленках SmS и их визуализация

На тонкой поликристаллической пленке SmS из рентгеновских дифрактограмм ($\theta-2\theta$-сканирование, ДРОН-2, Cu $K_\alpha$-излучение) по формуле Селякова–Шеррера с учетом влияния микронапряжений определен характерный размер областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения (250 $\pm$ 20 $\mathring{\mathrm{A}}$). С помощью электронного микроскопа получено изображение поверхности этой же пленки, на котором четко видны области с характерными размерами 240 $\mathring{\mathrm{A}}$. Сделан вывод, что визуально наблюдаются области когерентного рассеяния рентгеновского излучения.