|
|
Журнал технической физики, 2011, том 81, выпуск 10, страницы 114–121
(Mi jtf9265)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Поверхность, электронная и ионная эмиссия
Изучение адгезии пленок ниобия на разно-ориентированных поверхностях $\alpha$-Al$_2$O$_3$
В. В. Мельниковab, С. В. Еремеевab, С. Е. Кульковаab a Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, 634021 Томск, Россия
b Томский государственный университет,
634050 Томск, Россия
Аннотация:
По методу функционала электронной плотности изучена атомная и электронная структура границ раздела Nb/$\alpha$-Al$_2$O$_3$. Обсуждены структурные и электронные свойства трех поверхностей корунда, а также химическая связь металлических пленок ниобия на разно-ориентированных границах раздела. Установлены особенности электронной структуры для различных поверхностей $\alpha$-Al$_2$O$_3$ и их интерфейсов с ниобием. Проведен анализ взаимосвязи между электронными, геометрическими факторами и механическими свойствами изученных границ раздела. Показано, что адгезия пленок ниобия в значительной степени зависит от типа поверхности оксида.
Поступила в редакцию: 04.03.2011
Образец цитирования:
В. В. Мельников, С. В. Еремеев, С. Е. Кулькова, “Изучение адгезии пленок ниобия на разно-ориентированных поверхностях $\alpha$-Al$_2$O$_3$”, ЖТФ, 81:10 (2011), 114–121; Tech. Phys., 56:10 (2011), 1494–1500
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf9265 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v81/i10/p114
|
|