|
|
Журнал технической физики, 2011, том 81, выпуск 12, страницы 89–92
(Mi jtf9310)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Оптика, квантовая электроника
Анализ кристаллического расщепления мультиплетов иона Pr$^{3+}$ в YPO$_4$ c учетом влияния межконфигурационного взаимодействия
Л. А. Фомичева, Е. Б. Дунина, А. А. Корниенко Витебский государственный технологический университет,
210035 Витебск, Беларусь
Аннотация:
Выполнен анализ кристаллического расщепления мультиплетов иона Pr$^{3+}$ в YPO$_4$ c учетом влияния возбужденных конфигураций противоположной четности $4f^{(N-1)}5d$ и конфигурации с переносом заряда. Такой подход позволяет улучшить описание штарковской структуры мультиплетов на 39% по сравнению с приближением слабого конфигурационного взаимодействия, а также дает возможность на основе экспериментальных данных по штарковской структуре определить параметры ковалентности и параметры кристаллического поля нечетной симметрии. Параметры ковалентности, определенные таким способом, по порядку величины совпадают с соответствующими параметрами, вычисленными для других лигандов с помощью микроскопических моделей.
Поступила в редакцию: 09.03.2011
Образец цитирования:
Л. А. Фомичева, Е. Б. Дунина, А. А. Корниенко, “Анализ кристаллического расщепления мультиплетов иона Pr$^{3+}$ в YPO$_4$ c учетом влияния межконфигурационного взаимодействия”, ЖТФ, 81:12 (2011), 89–92; Tech. Phys., 56:12 (2011), 1787–1790
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf9310 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v81/i12/p89
|
|