|
Спектроскопия конденсированного состояния
Диагностика технологии оксидов титана и гафния методами люминесценции
С. В. Булярский, Г. Г. Гусаров, А. А. Дудин, Д. А. Коива, К. И. Литвинова Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН, 119991 Москва, Россия
Аннотация:
Показана роль вакансий кислорода в формировании полос люминесценции оксидов титана и гафния, а также продемонстрирована связь интенсивности полос люминесценции с условиями синтеза пленок этих материалов. Сделан вывод, что фотолюминесценция является очень чувствительным методом диагностики состава оксидов. Полосы люминесценции 2.45 eV в оксиде титана и 2.91 eV в оксиде гафния позволяют анализировать изменение состава пленок при различных технологических условиях их получения.
Ключевые слова:
вакансии кислорода, оксид титана, оксид гафния, фотолюминесценция.
Поступила в редакцию: 05.09.2022 Исправленный вариант: 18.11.2022 Принята в печать: 14.12.2022
Образец цитирования:
С. В. Булярский, Г. Г. Гусаров, А. А. Дудин, Д. А. Коива, К. И. Литвинова, “Диагностика технологии оксидов титана и гафния методами люминесценции”, Оптика и спектроскопия, 131:1 (2023), 25–29
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/os1264 https://www.mathnet.ru/rus/os/v131/i1/p25
|
|