Оптимальные схемы трассировки лучей в среднем ИК диапазоне через основные модельные формы неограненных и ограненных алмазов

Проведен анализ схем трассировки лучей в среднем ИК диапазоне через основные модельные формы ограненных и неограненных алмазов, используемых для определения концентраций основных дефектов на основе измерения оптического поглощения. Показано, что в традиционной схеме измерений на просвет из-за преломления и рассеяния во многих кристаллах регистрируется лишь малая доля падающего на кристалл излучения, что приводит к ухудшению отношения сигнал/шум и сужению динамического диапазона уровней сигнала. Даны практические рекомендации и предложены оптимальные варианты схем трассировки лучей через наиболее характерные формы кристаллов, обеспечивающие регистрацию максимальной доли прошедшего через кристаллы излучения и позволяющие реализовать эффективные измерения оптического поглощения в широком динамическом диапазоне для определения концентраций основных дефектов с высоким отношением сигнал/шум.