Оптика и спектроскопия
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Оптика и спектроскопия:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Оптика и спектроскопия, 2023, том 131, выпуск 11, страницы 1461–1463
DOI: https://doi.org/10.61011/OS.2023.11.57001.5050-23 (Mi os1507) 		 
Международная конференция ФизикА.СПб/2023 23-27 октября 2023 г., Санкт-Петербург
Спектроскопия конденсированного состояния

Оценка неоднородности распределения плотности тока и температуры в структурах биполярных и гетеробиполярных высокочастотных и сверхвысокочастотных транзисторов по рекомбинационному излучению

В. А. Сергеевa, И. В. Фроловa, А. А. Казанковb

a Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, 432011 Ульяновск, Россия
b Ульяновский государственный технический университет, 432027 Ульяновск, Россия
PDF полного текста (339 kB)
DOI: https://doi.org/10.61011/OS.2023.11.57001.5050-23
Аннотация: Исследованы параметры рекомбинационного излучения, возникающего в структурах биполярных транзисторов в импульсном и стационарном режимах работы. Получены яркостные профили распределения рекомбинационного излучения структуры при включении биполярных транзисторов в диодном режиме, позволяющие оценить неоднородность распределения плотности тока вдоль дорожек металлизации. На примере транзисторов КТ504А показано, что яркостные профили рекомбинационного излучения эмиттерного перехода в диодном включении хорошо описываются выражениями для распределения плотности тока вдоль дорожек металлизации.
Ключевые слова: биполярные и гетеробиполярные транзисторы, рекомбинационное излучение, распределение тока, неоднородность.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 22-29-01134
Работа выполнена при поддержке Российского научного фонда, проект № 22-29-01134, https://rscf.ru/en/project/22-29-01134/.
Поступила в редакцию: 11.05.2023
Исправленный вариант: 19.06.2023
Принята в печать: 30.10.2023
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. А. Сергеев, И. В. Фролов, А. А. Казанков, “Оценка неоднородности распределения плотности тока и температуры в структурах биполярных и гетеробиполярных высокочастотных и сверхвысокочастотных транзисторов по рекомбинационному излучению”, Оптика и спектроскопия, 131:11 (2023), 1461–1463
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SerFroKaz23}
\by В.~А.~Сергеев, И.~В.~Фролов, А.~А.~Казанков
\paper Оценка неоднородности распределения плотности тока и температуры в структурах биполярных и гетеробиполярных высокочастотных и сверхвысокочастотных транзисторов по рекомбинационному излучению
\jour Оптика и спектроскопия
\yr 2023
\vol 131
\issue 11
\pages 1461--1463
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/os1507}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=60019296}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/os1507
  • https://www.mathnet.ru/rus/os/v131/i11/p1461
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Оптика и спектроскопия Оптика и спектроскопия
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:68
    PDF полного текста:28
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2026