|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2025 |
| 1. |
Э. И. Рау, С. В. Зайцев, “Эффект увеличения коэффициента обратно рассеянных электронов на многослойных наноструктурах и инверсия контраста изображений в сканирующей электронной микроскопии”, УФН, 195:4 (2025), 425–431  ; E. I. Rau, S. V. Zaitsev, “Effect of increasing the coefficient of backscattered electrons for multilayer nanostructures and image contrast inversion in scanning electron microscopy”, Phys. Usp., 68:4 (2025), 401–407   |
1
|
|
2023 |
| 2. |
А. А. Татаринцев, Е. Ю. Зыкова, А. Е. Иешкин, Н. Г. Орликовская, Э. И. Рау, “Электризация поверхности кварцевых стекол электронными пучками”, Физика твердого тела, 65:8 (2023), 1288–1296  |
2
|
|
2022 |
| 3. |
Э. И. Рау, С. В. Зайцев, В. Ю. Караулов, “Определение толщин и глубин залегания подповерхностных наноструктур с помощью сканирующего электронного микроскопа”, Письма в ЖТФ, 48:23 (2022), 22–25 |
3
|
|
2021 |
| 4. |
Э. И. Рау, А. А. Татаринцев, “Новый сценарий кинетики зарядки диэлектриков при облучении электронами средних энергий”, Физика твердого тела, 63:4 (2021), 483–498 ; E. I. Rau, A. A. Tatarintsev, “A new scenario for the kinetics of charging dielectrics under irradiation with medium-energy electrons”, Phys. Solid State, 63:4 (2021), 628–643 |
10
|
|
2019 |
| 5. |
К. Ф. Миннебаев, Э. И. Рау, А. А. Татаринцев, “Зарядка диэлектриков при бомбардировке ионами Ar$^{+}$ средних энергий”, Физика твердого тела, 61:6 (2019), 1090–1093 ; K. F. Minnebaev, E. I. Rau, A. A. Tatarintsev, “Charging of dielectrics under medium energy Ar$^{+}$ ions irradiation”, Phys. Solid State, 61:6 (2019), 1013–1016 |
13
|
| 6. |
Э. И. Рау, А. А. Татаринцев, Е. Ю. Зыкова, С. В. Зайцев, “Исследование процессов зарядки ионно-имплантированных диэлектриков под воздействием электронного облучения”, ЖТФ, 89:8 (2019), 1276–1281 ; E. I. Rau, A. A. Tatarintsev, E. Yu. Zykova, S. V. Zaitsev, “Charging of ion-implanted dielectrics by electron irradiation”, Tech. Phys., 64:8 (2019), 1205–1209 |
4
|
|
2017 |
| 7. |
Э. И. Рау, А. А. Татаринцев, Е. Ю. Зыкова, И. П. Иваненко, С. Ю. Купреенко, К. Ф. Миннебаев, А. А. Хайдаров, “Электронно-лучевая зарядка диэлектриков, предварительно облученных ионами и электронами средних энергий”, Физика твердого тела, 59:8 (2017), 1504–1513 ; E. I. Rau, A. A. Tatarintsev, E. Yu. Zykova, I. P. Ivanenko, S. Yu. Kupreenko, K. F. Minnebaev, A. A. Haidarov, “Electron-beam charging of dielectrics preirradiated with moderate-energy ions and electrons”, Phys. Solid State, 59:8 (2017), 1526–1535 |
17
|
|
2015 |
| 8. |
С. Ю. Купреенко, Н. А. Орликовский, Э. И. Рау, А. М. Тагаченков, А. А. Татаринцев, “Определение толщин ультратонких поверхностных пленок в наноструктурах по энергетическим спектрам отраженных электронов”, ЖТФ, 85:10 (2015), 101–104 ; S. Yu. Kupreenko, N. A. Orlikovsky, E. I. Rau, A. M. Tagachenkov, A. A. Tatarintsev, “Determination of thickness of ultrathin surface films in nanostructures from the energy spectra of reflected electrons”, Tech. Phys., 60:10 (2015), 1515–1518 |
6
|
|
2013 |
| 9. |
А. В. Гостев, Н. А. Орликовский, Э. И. Рау, А. А. Трубицын, “Усовершенствование электронного тороидального спектрометра для растрового электронного микроскопа и его новые применения в диагностике структур микро- и наноэлектроники”, ЖТФ, 83:3 (2013), 140–147 ; A. V. Gostev, N. A. Orlikovsky, E. I. Rau, A. A. Trubitsyn, “Updating of the toroidal electron spectrometer intended for a scanning electron microscope and its new applications in diagnostics of micro- and nanoelectronic structures”, Tech. Phys., 58:3 (2013), 447–454 |
9
|
|
2012 |
| 10. |
Э. И. Рау, Н. А. Орликовский, Е. С. Иванова, “Функция отклика и оптимальная конфигурация полупроводниковых детекторов отраженных электронов для сканирующих электронных микроскопов”, Физика и техника полупроводников, 46:6 (2012), 829–832 ; E. I. Rau, N. A. Orlikovsky, E. S. Ivanova, “Response function and optimum configuration of semiconductor backscattered-electron detectors for scanning electron microscopes”, Semiconductors, 46:6 (2012), 810–813 |
2
|
|
2011 |
| 11. |
Н. А. Кошев, Н. А. Орликовский, Э. И. Рау, А. Г. Ягола, “Решение обратной задачи восстановления сигнала электронного
микроскопа в режиме отраженных электронов на множестве
функций ограниченной вариации”, Выч. мет. программирование, 12:3 (2011), 362–367 |
|
1989 |
| 12. |
С. К. Лихарев, Э. И. Рау, В. П. Трифоненков, А. Г. Ягола, “Микротомография полупроводниковых структур в режиме наведенного тока”, Докл. АН СССР, 307:4 (1989), 840–844 |
|
1988 |
| 13. |
Ю. В. Гуляев, М. А. Кулаков, А. И. Морозов, Э. И. Рау, “Исследование полупроводниковых структур методами акустической и электронной термоакустической микроскопии”, Докл. АН СССР, 301:4 (1988), 849–851 |
|
1987 |
| 14. |
А. Н. Тихонов, П. Н. Бочикашвили, А. В. Гончарский, А. Н. Матвиенко, Э. И. Рау, Д. О. Савин, В. В. Степанов, “Микротомография слоистых сред в конусных пучках”, Докл. АН СССР, 296:5 (1987), 1095–1097  |
|
1986 |
| 15. |
А. Н. Тихонов, А. В. Гончарский, И. В. Кочиков, Э. И. Рау, Д. О. Савин, Г. В. Спивак, В. В. Степанов, “Вычислительная микротомография объектов в рентгеновской и оптической сканирующей микроскопии”, Докл. АН СССР, 289:5 (1986), 1104–1107 |
1
|
| 16. |
А. П. Перов, Э. И. Рау, В. А. Чубаренко, А. Э. Юнович, “Зависимость наведенного тока от температуры и локальная спектроскопия
примесных уровней методами растровой электронной микроскопии”, Физика и техника полупроводников, 20:4 (1986), 607–612 |
|
1985 |
| 17. |
С. П. Меркурова, Э. И. Рау, О. Ю. Сердобольская, “Наблюдение межфазовых границ в керамике $Sb\,Si$ в термоволновом изображении”, Письма в ЖТФ, 11:16 (1985), 983–986 |
|
1983 |
| 18. |
Г. В. Спивак, Э. И. Рау, А. Ю. Сасов, “Цветокодированное отображение информации в растровой электронной микроскопии”, УФН, 139:1 (1983), 165–168 ; G. V. Spivak, E. I. Rau, A. Yu. Sasov, “Color-coded display of information in scanning electron microscopy”, Phys. Usp., 26:1 (1983), 84–86 |
6
|
|
