|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2021 |
| 1. |
Б. Е. Умирзаков, С. Б. Донаев, Р. М. Ёркулов, Р. Х. Ашуров, В. М. Ротштейн, “Состав и морфология поверхности Si(111) с поверхностной пленкой SiO$_{2}$ разной толщины”, Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1045–1048 |
|