Б. Е. Умирзаков, З. А. Исаханов, М. К. Рузибаева, З. Э. Мухтаров, А. С. Халматов, “Изучение профилей распределения атомов по глубине свободных нанопленочных систем типа Si–Me”, ЖТФ, 85:4 (2015), 123–125; B. E. Umirzakov, Z. A. Isakhanov, M. K. Ruzibaeva, Z. È. Мuhtarov, A. S. Khalmatov, “Analysis of profiles of atomic distribution over the depth of Si–Me free nanofilm systems”, Tech. Phys., 60:4 (2015), 600–602
